Escola Superior de Tecnologia e Gestão de Águeda (ESTGA)
Águeda School of Technology and Management
Uma Instituição (Grupo) no Authenticus é uma organização que engloba um conjunto de Investigadores (equipa da Instituição ou do Grupo). O conjunto de Investigadores depende da estrutura organizacional da instituição em cada ano e pode ser definido no perfil da Instituição, na secção “Investigadores”. Com base na equipa definida, o Authenticus produz listas de publicações, estatísticas e relatórios institucionais.
As publicações listadas no perfil da Instituição no Authenticus dependem de dois parâmetros:
- Investigadores associados à equipa da Instituição em cada ano.
- Origem das Publicações.
As publicações associadas à Instituição podem ter três origens:
- Publicações validadas pelos membros da equipa - Inclui todas as publicações validadas pelos membros da equipa; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Todas as Publicadas pelos membros da equipa - Inclui todas as anteriores mais aquelas em que um dos autores foi identificado com um membro da equipa, ainda que não tenha sido validada; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Com Base na Afiliação - inclui todas as publicações que têm a Instituição ou o Grupo mencionado na afiliação; não é necessário que a equipa da Instituição esteja definida mas, por outro lado, não é garantido que todas as publicações da Instituição sejam listadas.
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Publications Count: 659
63 Team MembersFilters -> Year: 2024
AUTORES: Santos, LO ; Afonso, PAFNA; Castro, JAAM; Oliveira, NMC ; Biegler, LT;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: International Symposium on Advanced Control of Chemical Processes in CONTROL ENGINEERING PRACTICE, VOLUME: 9, NÚMERO: 8, PÁGINAS: 847-857
AUTORES: Nossa, A; Cavaleiro, A ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 7th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE 2000) in SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY, VOLUME: 142, PÁGINAS: 984-991
AUTORES: Leitao, JP ; Carmo, MC;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics, VOLUME: 63, NÚMERO: 23, PÁGINAS: 2352081-2352087
AUTORES: Valter Silva; Santos, Frederico ; Valeri Skliarov;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Electrónica e telecomunicações : revista do Departamento de Electrónica e Telecomunicações da Universidade de Aveiro, VOLUME: 2, NÚMERO: 7
AUTORES: Valter Silva; Santos, Frederico ; Bernardo Cunha; João Cunha;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Electrónica e telecomunicações : revista do Departamento de Electrónica e Telecomunicações da Universidade de Aveiro, VOLUME: 2, NÚMERO: 7
AUTORES: Valter Silva; Telmo Silva; Santos, Frederico ;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: Electrónica e telecomunicações : revista do Departamento de Electrónica e Telecomunicações da Universidade de Aveiro, VOLUME: 2, NÚMERO: 6
AUTORES: Pereira, LMG ; Wicherson, RJ;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: ISPRS JOURNAL OF PHOTOGRAMMETRY AND REMOTE SENSING, VOLUME: 54, NÚMERO: 2-3, PÁGINAS: 105-114
AUTORES: Pereira, LMG ; Janssen, LLF;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: ISPRS JOURNAL OF PHOTOGRAMMETRY AND REMOTE SENSING, VOLUME: 54, NÚMERO: 4, PÁGINAS: 244-253
AUTORES: Leitao, JP ; Carmo, MC; Henry, MO; McGlynn, E; Bolmann, J; Lindner, S;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: 20th International Conference on Defects in Semiconductors (ICDS-20) in PHYSICA B-CONDENSED MATTER, VOLUME: 273-4, PÁGINAS: 420-423
AUTORES: Huising, EJ; Pereira, LMG ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: ISPRS JOURNAL OF PHOTOGRAMMETRY AND REMOTE SENSING, VOLUME: 53, NÚMERO: 5, PÁGINAS: 245-261
AUTORES: Ferreira, I ; Carvalho, J; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: 5th European Vacuum Conference (EVC 5) / 10th International Conference on Thin Films (ICTF 10) in THIN SOLID FILMS, VOLUME: 317, NÚMERO: 1-2, PÁGINAS: 140-143
AUTORES: Rice, A; Costa, ADS; Labrincha, JA ; Marques, FMB ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: IONICS, VOLUME: 3, NÚMERO: 1-2, PÁGINAS: 36-43
AUTORES: Leitao, JP ; Carmo, MC; Henry, MO;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 1996 International Conference on luminescence and Optical Spectroscopy of Condensed Matter (ICL 96) in JOURNAL OF LUMINESCENCE, VOLUME: 72-4, PÁGINAS: 110-111
AUTORES: Alves, E ; Bollmann, J; Deicher, M; Carmo, MC; Henry, MO; Knopf, MHA; Leitao, JP ; Magerle, R; McDonagh, CJ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 19th International Conference on Defects in Semiconductors (ICDS-19) in DEFECTS IN SEMICONDUCTORS - ICDS-19, PTS 1-3, VOLUME: 258-2, NÚMERO: PART 1, PÁGINAS: 473-478
AUTORES: Peyton, AJ; Yu, ZZ; Lyon, G; AlZeibak, S; Ferreira, J ; Velez, J; Linhares, F; Borges, AR ; Xiong, HL; Saunders, NH; Beck, MS;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY, VOLUME: 7, NÚMERO: 3, PÁGINAS: 261-271
AUTORES: Ferreira, J ; Linhares, F; Velez, J; de Oliveira, JE; Borges, AR;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: Proceedings of the 1996 12th Annual Review of Progress in Applied Computational Electromagnetics. Part 1 (of 2) in Annual Review of Progress in Applied Computational Electromagnetics, VOLUME: 1, PÁGINAS: 367-374
AUTORES: Santos, V ; Goncalves, JGM; Vaz, F;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: 1996 IEEE/RSJ International Conference on Intelligent Robots and Systems - Robotic Intelligence Interacting with Dynamic Worlds (IROS 96) in IROS 96 - PROCEEDINGS OF THE 1996 IEEE/RSJ INTERNATIONAL CONFERENCE ON INTELLIGENT ROBOTS AND SYSTEMS - ROBOTIC INTELLIGENCE INTERACTING WITH DYNAMIC WORLDS, VOLS 1-3, VOLUME: 2, PÁGINAS: 821-827
AUTORES: Afonso, PAFNA; Oliveira, NMC ; Castro, JAAM;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: European Symposium on Computer Aided Process Engineering - 6 (ESCAPE-6) in COMPUTERS & CHEMICAL ENGINEERING, VOLUME: 20, NÚMERO: SUPPL.2
AUTORES: Costa, ADS ; Labrincha, JA ; Marques, FMB ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE LETTERS, VOLUME: 15, NÚMERO: 19, PÁGINAS: 1716-1718