Linha D - Gestão Tecnológica
Line D - Technology Management
Centro de Investigação Em Organizações, Mercados e Gestão Industrial (COMEGI)
Uma Instituição (Grupo) no Authenticus é uma organização que engloba um conjunto de Investigadores (equipa da Instituição ou do Grupo). O conjunto de Investigadores depende da estrutura organizacional da instituição em cada ano e pode ser definido no perfil da Instituição, na secção “Investigadores”. Com base na equipa definida, o Authenticus produz listas de publicações, estatísticas e relatórios institucionais.
As publicações listadas no perfil da Instituição no Authenticus dependem de dois parâmetros:
- Investigadores associados à equipa da Instituição em cada ano.
- Origem das Publicações.
As publicações associadas à Instituição podem ter três origens:
- Publicações validadas pelos membros da equipa - Inclui todas as publicações validadas pelos membros da equipa; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Todas as Publicadas pelos membros da equipa - Inclui todas as anteriores mais aquelas em que um dos autores foi identificado com um membro da equipa, ainda que não tenha sido validada; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Com Base na Afiliação - inclui todas as publicações que têm a Instituição ou o Grupo mencionado na afiliação; não é necessário que a equipa da Instituição esteja definida mas, por outro lado, não é garantido que todas as publicações da Instituição sejam listadas.
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Publications Count: 294
22 Team MembersFilters -> Year: 2024
AUTORES: Batista, C; Portinha, A; Ribeiro, RM ; Teixeira, V ; Costa, MF; Oliveira, CR ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society in APPLIED SURFACE SCIENCE, VOLUME: 247, NÚMERO: 1-4, PÁGINAS: 313-319
AUTORES: Silva, RG ; Wilcox, SJ; Reuben, RL;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 2001 ASME International Mechanical Engineering Congress and Exposition in American Society of Mechanical Engineers, Dynamic Systems and Control Division (Publication) DSC, VOLUME: 70, PÁGINAS: 57-64
AUTORES: Machado, C ; Gomes, P ; Soares, R; Pereira, S; Soares, FO ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 27th Annual Conference of the IEEE Industrial-Electronics-Society in IECON'01: 27TH ANNUAL CONFERENCE OF THE IEEE INDUSTRIAL ELECTRONICS SOCIETY, VOLS 1-3, VOLUME: 3, PÁGINAS: 770-775
AUTORES: Silva, RG ; Wilcox, SJ; Reuben, RL;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 2001 ASME International Mechanical Engineering Congress and Exposition in ASME International Mechanical Engineering Congress and Exposition, Proceedings, VOLUME: 2, PÁGINAS: 1003-1010
AUTORES: Silva, RG ; Baker, KJ; Wilcox, SJ; Reuben, RL;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: MECHANICAL SYSTEMS AND SIGNAL PROCESSING, VOLUME: 14, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 287-298
AUTORES: Pereira, F; Bugnet, P; Ferreira, L ; Leitao, A ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: Journal Europeen des Systemes Automatises, VOLUME: 32, NÚMERO: 5-6, PÁGINAS: 757-770
AUTORES: Silva, RG ; Reuben, RL; Baker, KJ; Wilcox, SJ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: MECHANICAL SYSTEMS AND SIGNAL PROCESSING, VOLUME: 12, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 319-332
AUTORES: Oliveira, C ; Vialle, C; Merlin, J;
PUBLICAÇÃO: 1992, FONTE: Journal de Physique III, VOLUME: 2, NÚMERO: 11, PÁGINAS: 2203-2223
AUTORES: OLIVEIRA, C ; VIALLE, C; MERLIN, J;
PUBLICAÇÃO: 1991, FONTE: 2ND INTERNATIONAL CONF ON LASER M2P in JOURNAL DE PHYSIQUE IV, VOLUME: 1, NÚMERO: C7, PÁGINAS: 147-150
AUTORES: Bohoris, GA; Leitao, ALF ;
PUBLICAÇÃO: 1991, FONTE: Quality and Reliability Engineering International, VOLUME: 7, NÚMERO: 5, PÁGINAS: 393-402
AUTORES: Merlin, J; Junchang, L; Oliveira, C ; Manderscheid, T; Corbet, A;
PUBLICAÇÃO: 1990, FONTE: Journal of Optics, VOLUME: 21, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 51-62
AUTORES: Merlin J.; Oliveira C. ; Dietz J.;
PUBLICAÇÃO: 1989, FONTE: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, VOLUME: 952, PÁGINAS: 731
AUTORES: Leitao, ALF ; Newton, DW;
PUBLICAÇÃO: 1989, FONTE: Quality and Reliability Engineering International, VOLUME: 5, NÚMERO: 3, PÁGINAS: 229-238
AUTORES: Jacques Merlin; Jean Dietz; Carlos Oliveira ;
PUBLICAÇÃO: 1988, FONTE: SPIE Proceedings - Laser Technologies in Industry