Departamento de Física (DF)
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Uma Instituição (Grupo) no Authenticus é uma organização que engloba um conjunto de Investigadores (equipa da Instituição ou do Grupo). O conjunto de Investigadores depende da estrutura organizacional da instituição em cada ano e pode ser definido no perfil da Instituição, na secção “Investigadores”. Com base na equipa definida, o Authenticus produz listas de publicações, estatísticas e relatórios institucionais.
As publicações listadas no perfil da Instituição no Authenticus dependem de dois parâmetros:
- Investigadores associados à equipa da Instituição em cada ano.
- Origem das Publicações.
As publicações associadas à Instituição podem ter três origens:
- Publicações validadas pelos membros da equipa - Inclui todas as publicações validadas pelos membros da equipa; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Todas as Publicadas pelos membros da equipa - Inclui todas as anteriores mais aquelas em que um dos autores foi identificado com um membro da equipa, ainda que não tenha sido validada; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Com Base na Afiliação - inclui todas as publicações que têm a Instituição ou o Grupo mencionado na afiliação; não é necessário que a equipa da Instituição esteja definida mas, por outro lado, não é garantido que todas as publicações da Instituição sejam listadas.
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Publications Count: 657
5 Team MembersFilters -> Year: 2024
AUTORES: Blanco, A; Blanco, JJ; Collazo, J; Fonte, P ; Garzon, JA; Gomez, A; Kornakov, G; Kurtukian, T; Lopez Agueera, AL; Lopez, JM; Lopes, L; Morales, M; Morozova, A; Mourino, JC; Pais, MA; Palka, M; Perez Munuzuri, VP; Ribeiro, P; Rodriguez Cabo, IR; Sosa, I; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: 12th Workshop on Resistive Plate Chambers and Related Detectors in JOURNAL OF INSTRUMENTATION, VOLUME: 9, NÚMERO: 9
AUTORES: Milton P Macedo ; Correia, CMBA ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: Conference on Advanced Microscopy Techniques III in ADVANCED MICROSCOPY TECHNIQUES III, VOLUME: 8797
AUTORES: Fabbietti, L; Agakishiev, G; Behnke, C; Belver, D; Belyaev, A; J.C Berger-Chen; Blanco, A; Blume, C; Böhmer, M; Cabanelas, P; Chernenko, S; Dritsa, C; Dybczak, A; Epple, E; Fateev, O; Fonte, P ; Friese, J; Fröhlich, I; Galatyuk, T; J.A Garzón; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: Nuclear Physics A, VOLUME: 914, PÁGINAS: 60-68
AUTORES: Martins, P; Blanco, A; Crespo, P; Ferreira Marques, MF; Marques, RF; Gordo, PM; Kajetanowicz, M; Korcyl, G; Lopes, L; Michel, J; Palka, M; Traxler, M; Fonte, P ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: 2013 60th IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference, NSS/MIC 2013 in IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record
AUTORES: Paulo Martins; Alberto Blanco; Paulo Crespo; Fatima Ferreira Marques, MFF; Rui Ferreira Marques; Paulo M Gordo; Marcin Kajetanowicz; Grzegorz Korcyl; Luis Lopes; Jan Michel; Marek Palka; Michael Traxler; Paulo Fonte ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: 60th IEEE Nuclear Science Symposium (NSS) / Medical Imaging Conference (MIC) / 20th International Workshop on Room-Temperature Semiconductor X-ray and Gamma-ray Detectors in 2013 IEEE NUCLEAR SCIENCE SYMPOSIUM AND MEDICAL IMAGING CONFERENCE (NSS/MIC)
AUTORES: Miguel Couceiro ; Lehtonen, E ; Waldhauser, T;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: International Journal of Algebra and Computation, VOLUME: 23, NÚMERO: 3, PÁGINAS: 643-662
AUTORES: Breuil, P; Fonte, P ; Nappi, E; Oliveira, R; Peskov, V;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL PLUS, VOLUME: 128, NÚMERO: 12
AUTORES: Clemencio, FMC; Loureiro, CFM ; Fonte, P ; Landeck, J ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, VOLUME: 60, NÚMERO: 4, PÁGINAS: 2912-2917
AUTORES: Agakishiev, G; Belver, D; Blanco, A; Boehmer, M; Boyard, JL; Cabanelas, P; Castro, E; Chernenko, S; Destefanis, M; Dohrmann, F; Dybczak, A; Epple, E; Fabbietti, L; Fateev, O; Finocchiaro, P; Fonte, P ; Friese, J; Froehlich, I; Galatyuk, T; Garzon, JA; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL A, VOLUME: 49, NÚMERO: 11, PÁGINAS: 1-5
AUTORES: Fonte, P ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF INSTRUMENTATION, VOLUME: 8, NÚMERO: 4
AUTORES: Milton P Macedo ; Correia, CMBA ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: Conference on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VIII in OPTICAL MEASUREMENT SYSTEMS FOR INDUSTRIAL INSPECTION VIII, VOLUME: 8788
AUTORES: Agakishiev, G; Balanda, A; Belver, D; Belyaev, A; Berger Chen, JC; Blanco, A ; Boehmer, M; Boyard, JL; Cabanelas, P; Castro, E; Chernenko, S; Christ, T; Destefanis, M; Dohrmann, F; Dybczak, A; Epple, E; Fabbietti, L; Fateev, O; Finocchiaro, P; Fonte, P ; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: PHYSICAL REVIEW C, VOLUME: 87, NÚMERO: 2
AUTORES: Hiroki Kusano; Nobuyuki Hasebe; Hiroshi Nagaoka; Takuro Kodama; Yuki Oyama; Reiko Tanaka; Yoshiharu Amano; Kyeong J Kim; Jose A M Matias Lopes ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: SPIE Conference on Hard X-Ray, Gamma-Ray, and Neutron Detector Physics XV in HARD X-RAY, GAMMA-RAY, AND NEUTRON DETECTOR PHYSICS XV, VOLUME: 8852
AUTORES: Agakishiev, G; Balanda, A; Bassini, R; Belver, D; Belyaev, AV; Blanco, A; Bohmer, M; Boyard, JL; Cabanelas, P; Castro, E; Chernenko, S; Christ, T; Destefanis, M; Diaz, J; Dohrmann, F; Dybczak, A; Eberl, T; Epple, E; Fabbietti, L; Fateev, OV; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL A, VOLUME: 49, NÚMERO: 3
AUTORES: Alvarez, V; Ball, M; Borges, FIG ; Carcel, S; Castel, J; Cebrian, S; Cervera, A; Conde, CAN ; Dafni, T; Dias, THVT ; Diaz, J; Egorov, M; Esteve, R; Evtoukhovitch, P; Fernandes, LMP; Ferrario, P; Ferreira, AL ; Freitas, EDC ; Garcia, ANC; Gehman, VM; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF INSTRUMENTATION, VOLUME: 8, NÚMERO: 5
AUTORES: Peskov, V; Di Mauro, A; Fonte, P ; Martinengo, P; Nappi, E; Oliveira, R; Pietropaolo, P; Picchi, P;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: 13th Vienna Conference on Instrumentation in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT, VOLUME: 732, PÁGINAS: 255-259
AUTORES: Agakishiev, G; Behnke, C; Belver, D; Belyaev, A; Berger Chen, JC; Blanco, A ; Blume, C; Bohmer, M; Cabanelas, P; Chernenko, S; Dritsa, C; Dybczak, A; Epple, E; Fabbietti, L; Fateev, O; Fonte, P ; Friese, J; Frohlich, I; Galatyuk, T; Garzon, JA; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: 51st International Winter Meeting on Nuclear Physics, Bormio 2013 in Proceedings of Science
AUTORES: Cunha, M; Pinto, M; Simoes, H; Ferreira, B ; Lopes, MD; Fonte, P ; Crespo, P ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, VOLUME: 60, NÚMERO: 4, PÁGINAS: 3119-3126
AUTORES: Simoes, H; Cunha, M; Pinto, M; Goncalves, J; Sampaio, L; Ferreira, RJ; Saraiva, HM; Barbeiro, AR; Capela, M; Ferreira, B; Fonte, P ; Ghithan, S; Plaza, AL; Lopes, MD; Martins, P; Crespo, P ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, VOLUME: 60, NÚMERO: 4, PÁGINAS: 3110-3118
AUTORES: Fonte, P ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF INSTRUMENTATION, VOLUME: 8, NÚMERO: 8