Inesc Tecnologia e Ciência (INESC TEC)
Inesc Technology and Science
Uma Instituição (Grupo) no Authenticus é uma organização que engloba um conjunto de Investigadores (equipa da Instituição ou do Grupo). O conjunto de Investigadores depende da estrutura organizacional da instituição em cada ano e pode ser definido no perfil da Instituição, na secção “Investigadores”. Com base na equipa definida, o Authenticus produz listas de publicações, estatísticas e relatórios institucionais.
As publicações listadas no perfil da Instituição no Authenticus dependem de dois parâmetros:
- Investigadores associados à equipa da Instituição em cada ano.
- Origem das Publicações.
As publicações associadas à Instituição podem ter três origens:
- Publicações validadas pelos membros da equipa - Inclui todas as publicações validadas pelos membros da equipa; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Todas as Publicadas pelos membros da equipa - Inclui todas as anteriores mais aquelas em que um dos autores foi identificado com um membro da equipa, ainda que não tenha sido validada; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Com Base na Afiliação - inclui todas as publicações que têm a Instituição ou o Grupo mencionado na afiliação; não é necessário que a equipa da Instituição esteja definida mas, por outro lado, não é garantido que todas as publicações da Instituição sejam listadas.
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Publications Count: 18407
1699 Team MembersFilters -> Year: 2024
AUTORES: Thiago Andrade ; Brais Cancela ; João Gama ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: 19th EPIA Conference on Artificial Intelligence, EPIA 2019 in Progress in Artificial Intelligence, 19th EPIA Conference on Artificial Intelligence, EPIA 2019, Vila Real, Portugal, September 3-6, 2019, Proceedings, Part II., VOLUME: 11805, PÁGINAS: 410-421
AUTORES: Jonathan Hatchett; Domenico Toffoli; Miguel Melo ; Maximino Bessa ; Kurt Debattista; Alan Chalmers;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: SIGNAL PROCESSING-IMAGE COMMUNICATION, VOLUME: 76, PÁGINAS: 125-134
AUTORES: Carvalho, MI ; Facao, M;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: PHYSICAL REVIEW E, VOLUME: 100, NÚMERO: 3
AUTORES: Mendes, JP ; Coelho, L ; Kovacs, B; de Almeida, JMMM ; Pereira, CM ; Jorge, PAS ; Borges, MT ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: SENSORS, VOLUME: 19, NÚMERO: 24, PÁGINAS: 5513
AUTORES: José Pereira ; Laura Ricci;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: DAIS, VOLUME: 11534
AUTORES: Lezama, Fernando; Munoz de Cote, Enrique; Farinelli, Alessandro; Soares, Joao; Pinto, Tiago ; Vale, Zita;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: 19th EPIA Conference on Artificial Intelligence (EPIA) in PROGRESS IN ARTIFICIAL INTELLIGENCE, EPIA 2019, PT I, VOLUME: 11804, PÁGINAS: 438-449
AUTORES: Fernando Lezama; Enrique Munoz de Cote; Alessandro Farinelli; João P Soares; Tiago Pinto ; Zita A Vale;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: Progress in Artificial Intelligence - 19th EPIA Conference on Artificial Intelligence, EPIA 2019, Vila Real, Portugal, September 3-6, 2019, Proceedings, Part I, VOLUME: 11804, PÁGINAS: 438-449
AUTORES: Pinto, T ; Vale, Z;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: 16th International Conference on the European Energy Market, EEM 2019 in International Conference on the European Energy Market, EEM, VOLUME: 2019-September
AUTORES: Bruno Veloso ; Fatima Leal; Benedita Malheiro ; Fernando Moreira ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: 10th International Conference on Emerging Ubiquitous Systems and Pervasive Networks (EUSPN) / 9th International Conference on Current and Future Trends of Information and Communication Technologies in Healthcare (ICTH) in 10TH INT CONF ON EMERGING UBIQUITOUS SYST AND PERVAS NETWORKS (EUSPN-2019) / THE 9TH INT CONF ON CURRENT AND FUTURE TRENDS OF INFORMAT AND COMMUN TECHNOLOGIES IN HEALTHCARE (ICTH-2019) / AFFILIATED WORKOPS, VOLUME: 160, PÁGINAS: 457-460
AUTORES: Fabian Heymann; Joao Silva; Vladimiro Miranda ; Joel Melo; Filipe Joel Soares ; Antonio Padilha Feltrin;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRICAL POWER & ENERGY SYSTEMS, VOLUME: 106, PÁGINAS: 254-265
AUTORES: Jatowt, A; Campos, R ; Bhowmick, SS; Doucet, A;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: 28th ACM International Conference on Information and Knowledge Management (CIKM) in PROCEEDINGS OF THE 28TH ACM INTERNATIONAL CONFERENCE ON INFORMATION & KNOWLEDGE MANAGEMENT (CIKM '19), PÁGINAS: 2869-2872
AUTORES: Goncalves, TIG; Sousa, PSA ; Moreira, MRA ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: MANAGEMENT AND PRODUCTION ENGINEERING REVIEW, VOLUME: 10, NÚMERO: 4, PÁGINAS: 11-24
AUTORES: Lopes, G; Pinto, JR ; Cardoso, JS ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: 9th Iberian Conference on Pattern Recognition and Image Analysis, IbPRIA 2019 in PATTERN RECOGNITION AND IMAGE ANALYSIS, IBPRIA 2019, PT II, VOLUME: 11868, PÁGINAS: 38-49
AUTORES: Oliveira, L; Cardoso, JS ; Lourenço, A; Ahlström, C;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: 7th European Workshop on Visual Information Processing, EUVIP 2018 in Proceedings - European Workshop on Visual Information Processing, EUVIP, VOLUME: 2018-November
AUTORES: Dias, TG ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: IEEE TECHNOLOGY AND SOCIETY MAGAZINE, VOLUME: 38, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 36-38
AUTORES: Ana C Simoes ; Antonio Lucas Soares ; Ana C Barros ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: 6th International Scientific-Technical Conference on Advances in Manufacturing II (MANUFACTURING) in ADVANCES IN MANUFACTURING II, VOL 1 - SOLUTIONS FOR INDUSTRY 4.0, PÁGINAS: 203-212
AUTORES: Teresa Araújo; Guilherme Aresta; Luís Mendonça; Susana Penas; Carolina Maia; Ângela Carneiro; Ana Maria Mendonça; Aurélio Campilho ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: CoRR, VOLUME: abs/1910.11777
AUTORES: Santos, HM ; Pinho, P; Salgado, HM ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: 2019 SBMO/IEEE MTT-S International Microwave and Optoelectronics Conference, IMOC 2019 in 2019 SBMO/IEEE MTT-S International Microwave and Optoelectronics Conference, IMOC 2019
AUTORES: Ribeiro, C; Pinto, T ; Faria, P; Ramos, S; Vale, Z; Baptista, J ; Soares, J; Navarro Caceres, M; Corchado, JM;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: 2018 Clemson University Power Systems Conference, PSC 2018 in Clemson University Power Systems Conference, PSC 2018
AUTORES: Ricardo Santos; Ivo Pereira ; Isabel Azevedo;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: Advances in Computer and Electrical Engineering - Code Generation, Analysis Tools, and Testing for Quality, PÁGINAS: 1-35