Universidade de Aveiro (UA)
University of Aveiro
Uma Instituição (Grupo) no Authenticus é uma organização que engloba um conjunto de Investigadores (equipa da Instituição ou do Grupo). O conjunto de Investigadores depende da estrutura organizacional da instituição em cada ano e pode ser definido no perfil da Instituição, na secção “Investigadores”. Com base na equipa definida, o Authenticus produz listas de publicações, estatísticas e relatórios institucionais.
As publicações listadas no perfil da Instituição no Authenticus dependem de dois parâmetros:
- Investigadores associados à equipa da Instituição em cada ano.
- Origem das Publicações.
As publicações associadas à Instituição podem ter três origens:
- Publicações validadas pelos membros da equipa - Inclui todas as publicações validadas pelos membros da equipa; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Todas as Publicadas pelos membros da equipa - Inclui todas as anteriores mais aquelas em que um dos autores foi identificado com um membro da equipa, ainda que não tenha sido validada; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Com Base na Afiliação - inclui todas as publicações que têm a Instituição ou o Grupo mencionado na afiliação; não é necessário que a equipa da Instituição esteja definida mas, por outro lado, não é garantido que todas as publicações da Instituição sejam listadas.
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Publications Count: 23085
925 Team MembersFilters -> Year: 2024
AUTORES: Frazao, O ; Lima, MJN; Santos, JL ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: JOURNAL OF OPTICS A-PURE AND APPLIED OPTICS, VOLUME: 5, NÚMERO: 3, PÁGINAS: 183-185
AUTORES: Chiavacci, LA; Dahmouche, K; Briois, V; Santilli, CV; Bermudez, VD ; Carlos, LD ; Jolivet, JP; Pulcinelli, SH; Craievich, AF;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 12th International Conference on Small-Angle Scattering in JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, VOLUME: 36, NÚMERO: 3 I, PÁGINAS: 405-409
AUTORES: José Manuel Neto Vieira; Mota, A ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: IEEE Conference on Control Applications in CCA 2003: PROCEEDINGS OF 2003 IEEE CONFERENCE ON CONTROL APPLICATIONS, VOLS 1 AND 2, VOLUME: 1, PÁGINAS: 362-367
AUTORES: Doerr, SH; Ferreira, AJD ; Walsh, RPD; Shakesby, RA; Leighton Boyce, G; Coelho, COA ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: Workshop on Runoff Generation and Implications for River Basin Modelling in HYDROLOGICAL PROCESSES, VOLUME: 17, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 363-377
AUTORES: Cheng, K; Han, GR; Weng, WJ; Qu, HB; Du, PY; Shen, G; Yang, J; Feireira, JMF ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: MATERIALS RESEARCH BULLETIN, VOLUME: 38, NÚMERO: 1, PÁGINAS: 89-97
AUTORES: Song, CL; Weng, WJ; Cheng, K; Qu, HB; Du, PY; Shen, G; Han, GR; Yang, J; Ferreira, JMF ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE & TECHNOLOGY, VOLUME: 19, NÚMERO: 5, PÁGINAS: 495-498
AUTORES: Correia, SMG; Bermudez, VDZ; Silva, MM ; Barros, S ; Ferreira, RAS ; Carlos, LD ; de Almeida, APP; Smith, MJ ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: SOLID STATE IONICS, VOLUME: 156, NÚMERO: 1-2, PÁGINAS: 85-93
AUTORES: Leighton Boyce, G; Doerr, SH; Walsh, RPD; Shakesby, RA; Ferreira, AJD ; Boulet, AK; Coelho, COA ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: IAHS-AISH Publication, NÚMERO: 278, PÁGINAS: 111-116
AUTORES: Dorogovtsev, SN; Goltsev, AV; Mendes, JFF ; Samukhin, AN;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: Physical Review E - Statistical Physics, Plasmas, Fluids, and Related Interdisciplinary Topics, VOLUME: 68, NÚMERO: 4
AUTORES: Dorogovtsev, SN ; Goltsev, AV ; Mendes, JFF ; Samukhin, AN;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: PHYSICAL REVIEW E, VOLUME: 68, NÚMERO: 4, PÁGINAS: 461091-4610910
AUTORES: Duarte, RMBO ; Santos, EBH ; Duarte, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: WATER RESEARCH, VOLUME: 37, NÚMERO: 17, PÁGINAS: 4073-4080
AUTORES: Herdeiro, CAR ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: NUCLEAR PHYSICS B, VOLUME: 665, NÚMERO: 1-3, PÁGINAS: 189-210
AUTORES: Droz, M; Ferreira, AL ; Lipowski, A;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: PHYSICAL REVIEW E, VOLUME: 67, NÚMERO: 5, PÁGINAS: 056108/1-056108/4
AUTORES: Fagg, DP ; Kharton, VV ; Frade, JR ; Ferreira, AAL;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: SOLID STATE IONICS, VOLUME: 156, NÚMERO: 1-2, PÁGINAS: 45-57
AUTORES: Tsipis, EV ; Kharton, VV ; Vyshatko, NP; Shaula, AL ; Frade, JR ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: JOURNAL OF SOLID STATE CHEMISTRY, VOLUME: 176, NÚMERO: 1, PÁGINAS: 47-56
AUTORES: Smirnova, OA; Fuentes, RO; Figueiredo, F ; Kharton, VV ; Marques, FMB ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: JOURNAL OF ELECTROCERAMICS, VOLUME: 11, NÚMERO: 3, PÁGINAS: 179-189
AUTORES: Magalhaes, MCF ; Silva, MCM;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: MONATSHEFTE FUR CHEMIE, VOLUME: 134, NÚMERO: 5, PÁGINAS: 735-743
AUTORES: Facao, M ; Parker, DF;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: PHYSICAL REVIEW E, VOLUME: 68, NÚMERO: 1
AUTORES: Facao, M ; Parker, DF;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: Physical Review E - Statistical, Nonlinear, and Soft Matter Physics, VOLUME: 68, NÚMERO: 1 2, PÁGINAS: 166101-166107
AUTORES: Ferreira, PJSG ; José Manuel Neto Vieira ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: IEEE SIGNAL PROCESSING LETTERS, VOLUME: 10, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 50-53