Universidade de Aveiro (UA)
University of Aveiro
Uma Instituição (Grupo) no Authenticus é uma organização que engloba um conjunto de Investigadores (equipa da Instituição ou do Grupo). O conjunto de Investigadores depende da estrutura organizacional da instituição em cada ano e pode ser definido no perfil da Instituição, na secção “Investigadores”. Com base na equipa definida, o Authenticus produz listas de publicações, estatísticas e relatórios institucionais.
As publicações listadas no perfil da Instituição no Authenticus dependem de dois parâmetros:
- Investigadores associados à equipa da Instituição em cada ano.
- Origem das Publicações.
As publicações associadas à Instituição podem ter três origens:
- Publicações validadas pelos membros da equipa - Inclui todas as publicações validadas pelos membros da equipa; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Todas as Publicadas pelos membros da equipa - Inclui todas as anteriores mais aquelas em que um dos autores foi identificado com um membro da equipa, ainda que não tenha sido validada; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Com Base na Afiliação - inclui todas as publicações que têm a Instituição ou o Grupo mencionado na afiliação; não é necessário que a equipa da Instituição esteja definida mas, por outro lado, não é garantido que todas as publicações da Instituição sejam listadas.
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Publications Count: 23101
925 Team MembersFilters -> Year: 2024
AUTORES: Silva, RF ; Carrapichano, JM ; Oliveira, FJ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 1st International Materials Symposium (Materials 2001) in ADVANCED MATERIALS FORUM I, VOLUME: 230-2, PÁGINAS: 323-326
AUTORES: Vaz, CA; Mano, JF ; Fossen, M; van Tuil, RF; de Graaf, LA; Reis, RL ; Cunha, AA ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: JOURNAL OF MACROMOLECULAR SCIENCE-PHYSICS, VOLUME: B41, NÚMERO: 1, PÁGINAS: 33-46
AUTORES: Pillinger, M ; Goncalves, IS ; Lopes, AD ; Ferreira, P ; Rocha, J ; Zhang, GF; Schafer, M; Nuyken, O; Kuhn, FE;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: PHYSICAL CHEMISTRY CHEMICAL PHYSICS, VOLUME: 4, NÚMERO: 4, PÁGINAS: 696-702
AUTORES: Branco, L ; Costa, J ; Delgado, R ; Drew, MGB; Felix, V ; Goodfellow, BJ ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: JOURNAL OF THE CHEMICAL SOCIETY-DALTON TRANSACTIONS, NÚMERO: 18, PÁGINAS: 3539-3550
AUTORES: Kholkin, AL ; Martins, R ; Aguas, H ; Ferreira, I ; Silva, V; Smirnova, OA; Costa, MEV ; Vilarinho, PM ; Fortunato, E ; Baptista, JL;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 19th International Conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors (ICAMS 19) in JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS, VOLUME: 299, NÚMERO: PART 2, PÁGINAS: 1311-1315
AUTORES: Yang, L; Vieira, JM ; Tang, K; Zhou, G;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Symposium on Materials for High-Temperature Superconductor Technologies held at the 2001 MRS Fall Meeting in MATERIALS FOR HIGH-TEMPERATURE SUPERCONDUCTOR TECHNOLOGIES, VOLUME: 689, PÁGINAS: 119-124
AUTORES: Serafim, LS ; Lemos, PC; Levantesi, C; Tandoi, V; Santos, H ; Reis, MAM ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: JOURNAL OF MICROBIOLOGICAL METHODS, VOLUME: 51, NÚMERO: 1, PÁGINAS: 1-18
AUTORES: Chen, KX; Ge, ZB; Guo, JM; Zhou, HP; Ning, XS; Ferreira, JMF ; Xu, X; Oliveira, MILL ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 2nd China International Conference on High-Performance Ceramics (CICC-2) in HIGH-PERFORMANCE CERAMICS 2001, PROCEEDINGS, VOLUME: 224-2, PÁGINAS: 263-267
AUTORES: Silva, FJG ; Baptista, APM ; Pereira, E; Teixeira, V ; Fan, QH; Fernandes, AJS; Costa, FM ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: DIAMOND AND RELATED MATERIALS, VOLUME: 11, NÚMERO: 9, PÁGINAS: 1617-1622
AUTORES: Mano, JF ; Denchev, Z ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Summer School on Mechanical Spectroscopy Q-1 in DEFECTS AND DIFFUSION IN CERAMICS: AN ANNUAL RETROSPECTIVE IV, VOLUME: 206-2, PÁGINAS: 135-138
AUTORES: Mano, JF ; Denchev, Z ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Defect and Diffusion Forum, VOLUME: 206-207, PÁGINAS: 135-138
AUTORES: Kharton, VV ; Kovalevsky, AV; Tsipis, EV ; Viskup, AP; Naumovich, EN; Jurado, JR; Frade, JR ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: JOURNAL OF SOLID STATE ELECTROCHEMISTRY, VOLUME: 7, NÚMERO: 1, PÁGINAS: 30-36
AUTORES: Kharton, VV ; Marques, FMB ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: CURRENT OPINION IN SOLID STATE & MATERIALS SCIENCE, VOLUME: 6, NÚMERO: 3, PÁGINAS: 261-269
AUTORES: de Morais, AB ; Silva, JF ; Marques, AT ; de Castro, PT ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: APPLIED COMPOSITE MATERIALS, VOLUME: 9, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 117-129
AUTORES: de Morais, AB ; de Moura, MF ; Marques, AT ; de Castro, PT ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: COMPOSITES SCIENCE AND TECHNOLOGY, VOLUME: 62, NÚMERO: 5, PÁGINAS: 679-686
AUTORES: de Carvalho, NB ; Pedro, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 16th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems in ANALOG INTEGRATED CIRCUITS AND SIGNAL PROCESSING, VOLUME: 33, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 95-106
AUTORES: Salvador, P ; Nogueira, A ; Valadas, R;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: IEEE Global Telecommunications Conference (GLOBECOM 02) in GLOBECOM'02: IEEE GLOBAL TELECOMMUNICATIONS CONFERENCE, VOLS 1-3, CONFERENCE RECORDS: THE WORLD CONVERGES, VOLUME: 3, PÁGINAS: 2518-2522
AUTORES: Oliveira, MSA ; Sousa, ACM ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 7th International Conference on Advanced Computational Methods in Heat Transfer in ADVANCED COMPUTATIONAL METHODS IN HEAT TRANSER VII, VOLUME: 4, PÁGINAS: 251-260
AUTORES: Alves, NM ; Mano, JF ; Ribelles, JLG;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: JOURNAL OF THERMAL ANALYSIS AND CALORIMETRY, VOLUME: 70, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 633-649