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Ana Sofia Figueira Ramos
AuthID:
R-000-1GJ
Publicações
Confirmadas
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Document Source:
All
Document Type:
Todos os Tipos de Documentos
Article (34)
Proceedings Paper (7)
Editorial Material (1)
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1995
1994
1993
1992
1991
1990
1989
1988
Order:
Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 42
31
TÃTULO:
Mechanical characterisation of gamma-TiAl thin films obtained by two different sputtering routes
Full Text
AUTORES:
Vieira, MT
;
Trindade, B
;
Ramos, AS
;
Fernandes, JV
;
Vieira, Manuel
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
5th International Conference on Structural and Functional Intermetallics
in
MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A-STRUCTURAL MATERIALS PROPERTIES MICROSTRUCTURE AND PROCESSING,
VOLUME:
329
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
13
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
32
TÃTULO:
Microstructural characterisation of y-TiAl joints
AUTORES:
Guedes, A
;
Pinto, AMP
;
Vieira, Manuel
;
Viana, Filomena
;
Ramos, AS
;
Vieira, MT
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
1st International Materials Symposium (Materials 2001)
in
ADVANCED MATERIALS FORUM I,
VOLUME:
230-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
5
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
33
TÃTULO:
On the evaluation of the ductility of thin films
Full Text
AUTORES:
Antunes, JM
;
Menezes, LF
;
Vieira, Manuel
;
Fernandes, JV
;
Trindade, B
;
Ramos, AS
;
Vieira, MT
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A-STRUCTURAL MATERIALS PROPERTIES MICROSTRUCTURE AND PROCESSING,
VOLUME:
337,
NÚMERO:
1-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
4
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
34
TÃTULO:
Oxidation behaviour of (TiAl)-based intermetallics doped with silver
AUTORES:
Ramos, AS
;
Vieira, MT
;
Louro, C
;
Cavaleiro, A
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
1st International Materials Symposium (Materials 2001)
in
ADVANCED MATERIALS FORUM I,
VOLUME:
230-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
35
TÃTULO:
An approach using thin films as a predictive way to produce new bulk materials
Full Text
AUTORES:
Vieira, MT
;
Ramos, AS
;
Trindade, B
;
Fernandes, JV
;
Vieira, Manuel
;
PUBLICAÇÃO:
2000
,
FONTE:
2nd Asian-European International Conference on Plasma Surface Engineering (AEPSE'99)
in
SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY,
VOLUME:
131,
NÚMERO:
1-3
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
2
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
36
TÃTULO:
Characterisation of modified sputtered (TiAl)-based intermetallic materials doped with silver and chromium
AUTORES:
Coelho, C
;
Ramos, AS
;
Trindade, B
;
Vieira, MT
;
Fernandes, JV
;
Vieira, Manuel
;
PUBLICAÇÃO:
2000
,
FONTE:
International Conference on Development in Light Metals
in
DEVELOPMENT IN LIGHT METALS: SCIENCE, TECHNOLOGY AND APPLICATION,
VOLUME:
188
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
3
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
37
TÃTULO:
Mechanical characterisation of TiN/ZrN multi-layered coatings
Full Text
AUTORES:
Tavares, CJ
;
Rebouta, L
;
Andritschky, M
;
Ramos, S
;
PUBLICAÇÃO:
1999
,
FONTE:
Proceedings of the 1997 Advances in Materials and Processing Technologies, AMPT'97
in
JOURNAL OF MATERIALS PROCESSING TECHNOLOGY,
VOLUME:
93
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
38
TÃTULO:
Structure and properties of sputtered TiAl-M (M = Ag, Cr) thin films
Full Text
AUTORES:
Coelho, C
;
Ramos, AS
;
Trindade, B
;
Vieira, MT
;
Fernandes, JV
;
Vieira, Manuel
;
PUBLICAÇÃO:
1999
,
FONTE:
26th International Conference on Metallurgical Coating and Thin Films
in
SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY,
VOLUME:
120
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
15
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
39
TÃTULO:
The influence of ductile interlayers on the mechanical performance of tungsten nitride coatings
Full Text
AUTORES:
Vieira, MT
;
Ramos, AS
;
PUBLICAÇÃO:
1999
,
FONTE:
Proceedings of the 1997 Advances in Materials and Processing Technologies, AMPT'97
in
JOURNAL OF MATERIALS PROCESSING TECHNOLOGY,
VOLUME:
93
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
20
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
40
TÃTULO:
The influence of silver on the structure and mechanical properties of (TiAl)-based intermetallics
Full Text
AUTORES:
Vieira, MT
;
Trindade, B
;
Ramos, AS
;
Fernandes, JV
;
Vieira, Manuel
;
PUBLICAÇÃO:
1999
,
FONTE:
14th International Vacuum Congress/10th International Conference on Solid Surfaces/5th International Conference on Nanometre-Scale Science and Technology/10th International Conference on Quantitative Surface Analysis
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
343,
NÚMERO:
1-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
8
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
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