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António Manuel Cruz Serra
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R-000-28E
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Ano Asc
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IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 125
91
TÃTULO:
Introduction to special issue on ADC modelling and testing - 6th workshop on ADC modelling and testing
Full Text
AUTORES:
Daponte, P;
Serra, AC
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
ADC Modelling and Testing - 6th Workshop (ADC Modelling)
in
MEASUREMENT,
VOLUME:
32,
NÚMERO:
4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
92
TÃTULO:
Nonlinearity representation and PDF measurement of ADC testing signals
Full Text
AUTORES:
Martins, RC
;
Serra, AC
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
6th Euro Workshop on ADC Modelling and Testing (EWADC
in
MEASUREMENT,
VOLUME:
32,
NÚMERO:
4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
93
TÃTULO:
Performance analysis of an ADC histogram test using small triangular waves
AUTORES:
Alegria, F
;
Arpaia, P
;
Serra, AMD
;
Daponte, P
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT,
VOLUME:
51,
NÚMERO:
4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
94
TÃTULO:
Representation and measurement of nonlinearities in stimulus signals
AUTORES:
Martins, RC
;
Serra, AC
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
19th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC/2002)
in
IMTC 2002: PROCEEDINGS OF THE 19TH IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE, VOLS 1 & 2,
VOLUME:
1
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
95
TÃTULO:
A critical note to IEEE 1057-94 standard on hysteretic ADC dynamic testing
AUTORES:
Arpaia, P
;
Serra, AMD
;
Daponte, P
; Monteiro, CL;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 2000)
in
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT,
VOLUME:
50,
NÚMERO:
4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
96
TÃTULO:
A smart capacitive transducer with autocalibration capabilities
AUTORES:
Pereira, JMD
;
Postolache, O
;
Girao, PS
;
Serra, AC
;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
5th International Conference on Electronic Measurement and Instruments
in
ICEMI'2001: FIFTH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRONIC MEASUREMENT AND INSTRUMENTS, VOL 1, CONFERENCE PROCEEDINGS
INDEXADO EM:
WOS
97
TÃTULO:
ADC histogram test by triangular small-waves
AUTORES:
Alegria, F
; Arpaia, P;
Serra, AMD
; Daponte, P;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
18th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC/2001)
in
IMTC/2001: PROCEEDINGS OF THE 18TH IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE, VOLS 1-3: REDISCOVERING MEASUREMENT IN THE AGE OF INFORMATICS,
VOLUME:
3
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
98
TÃTULO:
ADC interbit modulation: description, detection and quantification
Full Text
AUTORES:
Martins, RC
;
Serra, AMD
;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
COMPUTER STANDARDS & INTERFACES,
VOLUME:
23,
NÚMERO:
1
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
99
TÃTULO:
Influence of frequency errors in the variance of the cumulative histogram
AUTORES:
Alegria, FAC
;
Serra, AMD
;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT,
VOLUME:
50,
NÚMERO:
2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
100
TÃTULO:
Phase-spectrum analysis for detection of ADC hysteretic distortion
AUTORES:
Monteiro, CL; Arpaia, P;
Serra, AC
;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
18th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC/2001)
in
IMTC/2001: PROCEEDINGS OF THE 18TH IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE, VOLS 1-3: REDISCOVERING MEASUREMENT IN THE AGE OF INFORMATICS,
VOLUME:
3
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
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