António Manuel Cruz Serra


AuthID: R-000-28E

Publicações Confirmadas: 125



101
TÍTULO: Variance of the cumulative histogram of ADCs due to frequency errors
AUTORES: Alegria, FC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 18th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC/2001) in IMTC/2001: PROCEEDINGS OF THE 18TH IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE, VOLS 1-3: REDISCOVERING MEASUREMENT IN THE AGE OF INFORMATICS, VOLUME: 3
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
102
TÍTULO: A new measurement method for the static test of ADCs  Full Text
AUTORES: Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: COMPUTER STANDARDS & INTERFACES, VOLUME: 22, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
103
TÍTULO: ADC characterization by using the histogram test stimulated by Gaussian noise - Theory and experimental results  Full Text
AUTORES: Martins, RC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: MEASUREMENT, VOLUME: 27, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus WOS
104
TÍTULO: Automatic calibration of analog and digital measuring instruments using computer vision
AUTORES: Alegria, FC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 49, NÚMERO: 1
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
105
TÍTULO: Computer vision applied to the automatic calibration of measuring instruments  Full Text
AUTORES: Alegria, FC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: MEASUREMENT, VOLUME: 28, NÚMERO: 3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
106
TÍTULO: Influence of frequency errors in the variance of the cumulative histogram
AUTORES: Alegria, FC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2000) in 2000 CONFERENCE ON PRECISION ELECTROMAGNETIC MEASUREMENTS DIGEST
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
107
TÍTULO: New measurement procedure for the static test of ADCs
AUTORES: Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in IMTC/2000: PROCEEDINGS OF THE 17TH IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE: SMART CONNECTIVITY: INTEGRATING MEASUREMENT AND CONTROL, VOLUME: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
108
TÍTULO: Automated ADC characterization using the histogram test stimulated by Gaussian noise
AUTORES: Martins, RC ; Serra, AMD ;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: 1998 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 98) in IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 48, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
109
TÍTULO: Dithered ADC systems in the presence of hysteresis errors  Full Text
AUTORES: Pereira, JMD; Serra, AC ; Girao, PS;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: 16th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in IMTC/99: PROCEEDINGS OF THE 16TH IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE, VOLS. 1-3, VOLUME: 3
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
110
TÍTULO: Automated ADC characterisation using the histogram test stimulated by Gaussian noise
AUTORES: Martins, RC ; Serra, AMC ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: 1998 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 98) in 1998 CONFERENCE ON PRECISION ELECTROMAGNETIC MEASUREMENTS DIGEST
INDEXADO EM: Scopus WOS
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