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Carlos Jorge Mariano Miranda Dias
AuthID:
R-000-390
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Document Source:
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Todos os Tipos de Documentos
Article (60)
Proceedings Paper (30)
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1990
1989
1988
1987
Order:
Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 91
21
TÃTULO:
On the Width of the Thermally Stimulated Discharge Current Peak
AUTORES:
Neagu, ER
;
Dias, CJ
;
Lanca, MC
;
Igreja, R
;
Inacio, P
; Marat-Mendes, JN; Neagu, ER;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
International Conference on Solid Dielectrics ICSD
in
PROCEEDINGS OF THE 2010 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON SOLID DIELECTRICS (ICSD 2010)
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
22
TÃTULO:
The analysis of isothermal current in terms of charge injection or extraction at the metal-dielectric contact
Full Text
AUTORES:
Neagu, ER;
Neagu, RM
;
Dias, CJ
;
Carmo C Lanca
;
Marat Mendes, JN
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
5th International Conference on Dielectric Spectroscopy and Its Applications
in
JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS,
VOLUME:
356,
NÚMERO:
11-17
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
23
TÃTULO:
The determination of the pull-in voltage from the condition of bridge stability
AUTORES:
Neagu, ER
;
Dias, CJ
;
Carmo Lanca, M
;
Marat Mendes, JN
; Neagu, RM;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
International Journal of Nanomanufacturing,
VOLUME:
5,
NÚMERO:
1-2
INDEXADO EM:
Scopus
CrossRef
NO MEU:
ORCID
24
TÃTULO:
The Study of the Molecular Movements in the Range of Glass Transition by the Final Thermally Stimulated Discharge Current Technique
AUTORES:
Neagu, ER
;
Dias, CJ
;
Lanca, MC
;
Igreja, R
;
Inacio, P
; Marat-Mendes, JN; Neagu, ER;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
International Conference on Solid Dielectrics ICSD
in
PROCEEDINGS OF THE 2010 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON SOLID DIELECTRICS (ICSD 2010)
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
25
TÃTULO:
Charge Injection/extraction at a Metal-dielectric Interface: Experimental Validation
Full Text
AUTORES:
Eugen R Neagu
;
Carlos J Dias
;
PUBLICAÇÃO:
2009
,
FONTE:
IEEE ELECTRICAL INSULATION MAGAZINE,
VOLUME:
25,
NÚMERO:
1
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
26
TÃTULO:
The study of molecular movements in dielectrics using isothermal and non-isothermal current measurements
Full Text
AUTORES:
Neagu, ER
;
Dias, CJ
;
Lanca, MC
;
Marat Mendes, JN
;
PUBLICAÇÃO:
2009
,
FONTE:
Journal of Physics: Conference Series,
VOLUME:
183
INDEXADO EM:
Scopus
CrossRef
NO MEU:
ORCID
27
TÃTULO:
Dielectric relaxation studies and electro-optical measurements in poly(triethylene glycol dimethacrylate)/nematic E7 composites exhibiting an anchoring breaking transition
AUTORES:
Bras, ARE
; Garcia, O;
Viciosa, MT
; Martins, S; Sastre, R;
Dias, CJ
;
Figueirinhas, JL
;
Dionisio, M
;
PUBLICAÇÃO:
2008
,
FONTE:
LIQUID CRYSTALS,
VOLUME:
35,
NÚMERO:
4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ResearcherID
28
TÃTULO:
Genuine and apparent thermally stimulated discharge current peaks
AUTORES:
Neagu, RM;
Neagu, ER
;
Dias, CJ
;
Lanoa, MC
;
Marat Mendes, JN
;
PUBLICAÇÃO:
2008
,
FONTE:
13th International Symposium on Electrets, ISE 13
in
Proceedings - International Symposium on Electrets
INDEXADO EM:
Scopus
CrossRef
NO MEU:
ORCID
29
TÃTULO:
Optimization of a biosensor based on a piezoelectric polymer film
AUTORES:
Inacio, P; Marat Mendes, JN; Neagu, E;
Dias, CJ
;
PUBLICAÇÃO:
2008
,
FONTE:
13th International Symposium on Electrets, ISE 13
in
Proceedings - International Symposium on Electrets
INDEXADO EM:
Scopus
CrossRef
NO MEU:
ORCID
30
TÃTULO:
The barrier height for electron injection/extraction at metal-dielectric interface
AUTORES:
Neagu, ER
; Neagu, RM;
Dias, CJ
;
Lanca, MC
;
Marat Mendes, JN
;
PUBLICAÇÃO:
2008
,
FONTE:
13th International Symposium on Electrets, ISE 13
in
Proceedings - International Symposium on Electrets
INDEXADO EM:
Scopus
CrossRef
NO MEU:
ORCID
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