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Helena Maria dos Santos Geirinhas Ramos
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R-000-5TB
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Proceedings Paper (112)
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1991
Order:
Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 158
51
TÃTULO:
Regularization Methods to Assess the Eddy Current Density Inside Conductive Non-Ferromagnetic Media
Full Text
AUTORES:
Lopes Ribeiro, AL
;
Ramos, HG
;
Pasadas, D
;
Rocha, T
;
PUBLICAÇÃO:
2014
,
FONTE:
10th International Conference on Barkhausen and Micro-Magnetics (ICBM)
in
40TH ANNUAL REVIEW OF PROGRESS IN QUANTITATIVE NONDESTRUCTIVE EVALUATION: INCORPORATING THE 10TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON BARKHAUSEN NOISE AND MICROMAGNETIC TESTING, VOLS 33A & 33B,
VOLUME:
1581
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
52
TÃTULO:
Using Excitation Invariance in the Characterization of Defects by Eddy Current Image Constructions
AUTORES:
Lopes Ribeiro, AL
;
Pasadas, D
;
Ramos, HG
;
Rocha, T
;
PUBLICAÇÃO:
2014
,
FONTE:
1st International Conference on Structural Integrity (ICONS)
in
STRUCTURAL INTEGRITY,
VOLUME:
86,
NÚMERO:
C
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
53
TÃTULO:
Using Tikhonov regularization to determine the eddy current density in a plate
AUTORES:
Ribeiro, AL
; Pasadas, DJ;
Ramos, HG
; Rocha, TJ;
PUBLICAÇÃO:
2014
,
FONTE:
Studies in Applied Electromagnetics and Mechanics,
VOLUME:
39
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
54
TÃTULO:
Assessing metal plate thickness: An SVM approach with electromagnetic methods
AUTORES:
Ramos, HG
;
Rocha, T
;
Kral, J
;
Pasadas, D
;
Ribeiro, AL
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
12th IMEKO TC10 Workshop on Technical Diagnostics: New Perspective in Measurements, Tools and Techniques for Industrial Applications
in
12th IMEKO TC10 Workshop on Technical Diagnostics: New Perspective in Measurements, Tools and Techniques for Industrial Applications, Proceedings
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
55
TÃTULO:
Assessing metal plate thickness: An SVM approach with electromagnetic methods
AUTORES:
Ramos, HG
; Rocha, T; Kral, J; Pasadas, D;
Ribeiro, AL
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
12th IMEKO TC10 Workshop on New Perspectives in Measurements, Tools and Techniques for Industrial Applications 2013
in
12th IMEKO TC10 Workshop on New Perspectives in Measurements, Tools and Techniques for Industrial Applications 2013
INDEXADO EM:
Scopus
56
TÃTULO:
EDDY CURRENT MAPPING INSIDE A PLANE CONDUCTOR WITH FLAWS
Full Text
AUTORES:
Ribeiro, AL
;
Ramos, HG
; Pasadas, DJ; Rocha, TJ;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
39th Annual Review of Progress in Quantative Nondestructive Evaluation (QNDE)
in
REVIEW OF PROGRESS IN QUANTITATIVE NONDESTRUCTIVE EVALUATION, VOLS 32A AND 32B,
VOLUME:
1511
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
57
TÃTULO:
FARADAY INDUCTION EFFECT APPLIED TO THE DETECTION OF DEFECTS IN A MOVING PLATE
Full Text
AUTORES:
Ramos, HG
; Rocha, T; Pasadas, D;
Ribeiro, AL
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
39th Annual Review of Progress in Quantative Nondestructive Evaluation (QNDE)
in
REVIEW OF PROGRESS IN QUANTITATIVE NONDESTRUCTIVE EVALUATION, VOLS 32A AND 32B,
VOLUME:
1511
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
58
TÃTULO:
GMR array uniform eddy current probe for defect detection in conductive specimens
AUTORES:
Postolache, O
;
Ribeiro, AL
;
Ramos, HG
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
MEASUREMENT,
VOLUME:
46,
NÚMERO:
10
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
Handle
NO MEU:
ORCID
59
TÃTULO:
Remote Field Eddy Current Inspection of Metallic Tubes Using GMR Sensors
Full Text
AUTORES:
Dario J Pasadas
;
Tiago J Rocha
;
Helena G Ramos
;
Lopes Ribeiro, AL
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC)
in
2013 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE (I2MTC)
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
60
TÃTULO:
The Lift-Off Effect in Eddy Currents on Thickness Modeling and Measurement
AUTORES:
Jakub Kral
; Radislav Smid;
Helena Maria G Geirinhas Ramos
;
Lopes Ribeiro, AL
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT,
VOLUME:
62,
NÚMERO:
7
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
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