José Alberto Peixoto Machado da Silva


AuthID: R-000-7Z3

Publicações Confirmadas: 95



61
TÍTULO: A low-power oscillation based LNA BIST scheme
AUTORES: da Silva, JM ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: International Conference on Design and Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology in IEEE DTIS: 2006 International Conference on Design & Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology, Proceedings
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef Handle
NO MEU: ORCID
62
TÍTULO: A high level test processor and test program generator
AUTORES: Francisco X Duarte; José C Alves; José M da Silva ; António Pinho; José S Matos;
PUBLICAÇÃO: 2005
INDEXADO EM: Handle
63
TÍTULO: A processor for testing mixed-signal cores in System-on-Chip
AUTORES: Duarte, F; da Silva, JM ; Alves, JC ; Pinho, GA; Matos, JS ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 8th Euromicro Conference on Digital System Design in DSD 2005: 8th Euromicro Conference on Digital System Design, Proceedings, VOLUME: 2005
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
64
TÍTULO: ADC Applications, Architectures and Terminology
AUTORES: José Machado Silva ; Hélio Mendonça ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: The International Series in Engineering and Computer Science - Dynamic Characterisation of Analogue-to-Digital Converters
INDEXADO EM: CrossRef: 1
NO MEU: ORCID
65
TÍTULO: Comparative Study of ADC Sinewave Test Methods
AUTORES: José Machado Silva ; Hélio Mendonça ; Sara Mazoleni;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: The International Series in Engineering and Computer Science - Dynamic Characterisation of Analogue-to-Digital Converters
INDEXADO EM: CrossRef
NO MEU: ORCID
66
TÍTULO: Design for embedded testing of an LNA
AUTORES: José M da Silva ; António Pinho; José S Matos;
PUBLICAÇÃO: 2005
INDEXADO EM: Handle
67
TÍTULO: Differential Gain and Phase Testing
AUTORES: José Machado Silva ; Hélio Mendonça ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: The International Series in Engineering and Computer Science - Dynamic Characterisation of Analogue-to-Digital Converters
INDEXADO EM: CrossRef
NO MEU: ORCID
68
TÍTULO: Low-Power In-Circuit testing of a LNA
AUTORES: José M da Silva ;
PUBLICAÇÃO: 2005
INDEXADO EM: Handle
69
TÍTULO: Computing ADC harmonic content from a reduced number of values  Full Text
AUTORES: Mendonca, HS ; da Silva, JM ; Matos, JS ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 20th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in IMTC/O3: PROCEEDINGS OF THE 20TH IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE, VOLS 1 AND 2, VOLUME: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 1
NO MEU: ORCID
70
TÍTULO: Functional in-circuit characterisation of Sigma Delta modulators  Full Text
AUTORES: da Silva, JM ; Duarte, JS; Matos, JS ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 6th Euro Workshop on ADC Modelling and Testing (EWADC in MEASUREMENT, VOLUME: 32, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
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