José Carvalho Soares


AuthID: R-000-886

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TÍTULO: Determination of the composition of light thin films with artificial neural network analysis of Rutherford backscattering experiments
AUTORES: Matias, V; Ohl, G; Soares, JC ; Barradas, NP ; Vieira, A; Cardoso, S ; Freitas, PP ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: PHYSICAL REVIEW E, VOLUME: 67, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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TÍTULO: Lattice location and stability of implanted Cu in Ge  Full Text
AUTORES: Wahl, U ; Correia, JG ; Soares, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 22nd International Conference on Defects in Semiconductors (ICDS-22) in PHYSICA B-CONDENSED MATTER, VOLUME: 340
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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43
TÍTULO: Lattice site and stability of implanted Ag in ZnO  Full Text
AUTORES: Rita, E; Wahl, U ; Lopes, AML ; Araujo, JP ; Correia, JG ; Alvesa, E ; Soares, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 22nd International Conference on Defects in Semiconductors (ICDS-22) in PHYSICA B-CONDENSED MATTER, VOLUME: 340
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 21
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44
TÍTULO: Lattice site location and optical activity of Er implanted ZnO  Full Text
AUTORES: Alves, E ; Rita, E; Wahl, U ; Correia, JG ; Monteiro, T ; Soares, J ; Boemare, C;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 13th International Conference on Ion Beam Modification of Materials in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 206
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 53
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TÍTULO: Lattice site location studies of rare-earths implanted in ZnO single-crystals
AUTORES: Rita, EMC; Wahl, U ; Lopes, AL; Araujo, JP ; Correia, JG ; Alves, E ; Soares, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: Symposium on Progress in Semiconductors II - Electronic and Optoelectronic Applications in PROGRESS IN SEMICONDUCTORS II- ELECTRONIC AND OPTOELECTRONIC APPLICATIONS, VOLUME: 744
INDEXADO EM: Scopus WOS
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TÍTULO: Structural and optical studies of Co and Ti implanted sapphire  Full Text
AUTORES: Alves, E ; Marques, C; da Silva, RC; Monteiro, T ; Soares, J ; McHargue, C; Ononye, LC; Allard, LF;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 104th Meeting of the American-Ceramic-Society in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 207, NÚMERO: 1
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 9
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47
TÍTULO: Characterization of nano-oxide layers fabricated by ion beam oxidation
AUTORES: Cardoso, S ; Zhang, ZZ; Li, HH; Ferreira, R; Freitas, PP ; Wei, P; Soares, JC ; Snoeck, E; Batlle, X;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: International Magnetics Conference (Intermag Europe 2002) in IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS, VOLUME: 38, NÚMERO: 5
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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TÍTULO: Characterization of nano-oxide layers fabricated by ION beam oxidation: Application in specular spin-valves and tunnel junctions
AUTORES: Cardoso, S ; Li, H; Freitas, PP; Wei, P; Ramos, AR ; Soares, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 2002 IEEE International Magnetics Conference-2002 IEEE INTERMAG in Digests of the Intermag Conference
INDEXADO EM: Scopus
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49
TÍTULO: Composition analysis of the insulating barrier in magnetic tunnel junctions by grazing angle of incidence RBS  Full Text
AUTORES: Wei, P; Barradas, NP ; Soares, JC ; da Silva, MF; Kreissig, U; Cardoso, S ; Freitas, PP ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 15th International Conference on Ion-Beam Analysis (IBA-15) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 190, NÚMERO: 1-4
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50
TÍTULO: Determination of the erbium lattice site in bismuth tellurite using PIXE/channeling  Full Text
AUTORES: Kling, A ; da Silva, MF; Soares, JC ; Foldvari, I; Peter, A;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 15th International Conference on Ion-Beam Analysis (IBA-15) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 190, NÚMERO: 1-4
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