141
TÍTULO: <title>Use of CCD arrays versus PSD detectors in an optical triangulation-based microtopographer</title>
AUTORES: Manuel F M Costa;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: Optical Inspection and Micromeasurements
INDEXADO EM: CrossRef
NO MEU: ORCID
142
TÍTULO: &lt;title&gt;Surface inspection by optical triangulation&lt;/title&gt;
AUTORES: Manuel F M Costa;
PUBLICAÇÃO: 1994, FONTE: SPIE Proceedings - Optical Measurements and Sensors for the Process Industries
INDEXADO EM: CrossRef
NO MEU: ORCID
143
TÍTULO: MICROTOPOGRAPHIC INSPECTION OF SURFACES - A COMPARISON BETWEEN MOIRE, CONTRIVED LIGHTNING AND DISCREET TRIANGULATION METHODS
AUTORES: COSTA, MFM; ALMEIDA, JB;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: Conference on Interferometry VI: Techniques and Analysis in INTERFEROMETRY VI: TECHNIQUES AND ANALYSIS, VOLUME: 2003
INDEXADO EM: WOS
145
TÍTULO: &lt;title&gt;Inspection of rough surfaces by optical triangulation&lt;/title&gt;
AUTORES: Manuel F M Costa; Jose B Almeida;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: SPIE Proceedings - 14th Symposium on Photonic Measurement
INDEXADO EM: CrossRef
NO MEU: ORCID
146
TÍTULO: System of optical noncontact microtopography
AUTORES: Manuel F M Costa; Jose B Almeida;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: Applied Optics, VOLUME: 32, NÚMERO: 25
INDEXADO EM: CrossRef: 10
NO MEU: ORCID
147
TÍTULO: A System of Non Contact Microtropography
AUTORES: Manuel F M Costa; Almeida, JB;
PUBLICAÇÃO: 1991, FONTE: Review of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation
INDEXADO EM: CrossRef
NO MEU: ORCID
148
TÍTULO: &lt;title&gt;Noncontact optical microtopography&lt;/title&gt;
AUTORES: Manuel F M Costa; Jose B Almeida;
PUBLICAÇÃO: 1991, FONTE: SPIE Proceedings - Optical Fabrication and Testing
INDEXADO EM: CrossRef: 1
NO MEU: ORCID
149
TÍTULO: Optical microtopographer for rough surfaces
AUTORES: Manuel F M Costa; Jose B Almeida;
PUBLICAÇÃO: 1990, FONTE: SPIE Proceedings - Optics in Complex Systems
INDEXADO EM: CrossRef
NO MEU: ORCID
150
TÍTULO: Mapping of textile surface relief
AUTORES: Costa, MFPCM; Almeida, JB;
PUBLICAÇÃO: 1989, FONTE: Laser Technologies in Industry in Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, VOLUME: 952
INDEXADO EM: Scopus
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