Paulo Jorge Pires Ferreira
AuthID: R-000-EF4
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TÃTULO: Study of the 300-mm CoSi2 defects induced by Soft Sputter Etch process before cobalt deposition - Characterization, design of experiment and 200/300 mm comparison Full Text
AUTORES: Humbert, A; Regnier, C; Braeckelmann, G; Basso, MT; Ferreira, P;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: Materials Science and Engineering B: Solid-State Materials for Advanced Technology, VOLUME: 114-115, NÚMERO: SPEC. ISS.
AUTORES: Humbert, A; Regnier, C; Braeckelmann, G; Basso, MT; Ferreira, P;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: Materials Science and Engineering B: Solid-State Materials for Advanced Technology, VOLUME: 114-115, NÚMERO: SPEC. ISS.
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TÃTULO: Parallel Operating Systems
AUTORES: João Garcia; Paulo Ferreira; Paulo Guedes;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Handbook on Parallel and Distributed Processing
AUTORES: João Garcia; Paulo Ferreira; Paulo Guedes;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Handbook on Parallel and Distributed Processing
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