Ana Sofia Figueira Ramos
AuthID: R-000-1GJ
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TÃTULO: Erratum to: In Situ Phase Evolution of Ni/Ti Reactive Multilayers (J. of Materi Eng and Perform, DOI 10.1007/s11665-014-1072-y)
AUTORES: Cavaleiro, AJ; Ramos, AS; Martins, RMS; Baehtz, C; Vieira, MT; Braz Fernandes, FM;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: Journal of Materials Engineering and Performance, VOLUME: 23, NÚMERO: 9
AUTORES: Cavaleiro, AJ; Ramos, AS; Martins, RMS; Baehtz, C; Vieira, MT; Braz Fernandes, FM;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: Journal of Materials Engineering and Performance, VOLUME: 23, NÚMERO: 9
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TÃTULO: Cholinesterase characterization in Corbicula fluminea and effects of relevant environmental contaminants: A pesticide (chlorfenvinphos) and a detergent (SDS) Full Text
AUTORES: Ana S Ramos; Fernando Goncalves ; Sara C Antunes ; Bruno Nunes ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: JOURNAL OF ENVIRONMENTAL SCIENCE AND HEALTH PART B-PESTICIDES FOOD CONTAMINANTS AND AGRICULTURAL WASTES, VOLUME: 47, NÚMERO: 6
AUTORES: Ana S Ramos; Fernando Goncalves ; Sara C Antunes ; Bruno Nunes ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: JOURNAL OF ENVIRONMENTAL SCIENCE AND HEALTH PART B-PESTICIDES FOOD CONTAMINANTS AND AGRICULTURAL WASTES, VOLUME: 47, NÚMERO: 6
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TÃTULO: TRANSFO-EMF.ELF - A 3D magnetic leakage flux simulator for dry cast transformers
AUTORES: Antunes, CL ; Ramos, AJ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 19th International Conference on Electrical Machines, ICEM 2010 in 19th International Conference on Electrical Machines, ICEM 2010
AUTORES: Antunes, CL ; Ramos, AJ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 19th International Conference on Electrical Machines, ICEM 2010 in 19th International Conference on Electrical Machines, ICEM 2010
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TÃTULO: Intermixing in Ni/Al multilayer thin films
AUTORES: Simoes, S ; Viana, Filomena ; Ramos, AS; Vieira, MT; Vieira, Manuel ;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: Microscopy and Microanalysis, VOLUME: 15, NÚMERO: SUPPL.3
AUTORES: Simoes, S ; Viana, Filomena ; Ramos, AS; Vieira, MT; Vieira, Manuel ;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: Microscopy and Microanalysis, VOLUME: 15, NÚMERO: SUPPL.3
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TÃTULO: Joining of TiAl alloys using Ni/Al multilayers
AUTORES: Simoes, S ; Viana, Filomena ; Ventzke, V; Kocak, M; Ramos, AS; Vieira, MT; Vieira, Manuel ;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: Microscopy and Microanalysis, VOLUME: 15, NÚMERO: SUPPL.3
AUTORES: Simoes, S ; Viana, Filomena ; Ventzke, V; Kocak, M; Ramos, AS; Vieira, MT; Vieira, Manuel ;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: Microscopy and Microanalysis, VOLUME: 15, NÚMERO: SUPPL.3
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TÃTULO: STRUCTURAL SINGULARITIES OF SUPERCONDUCTING Y-BA-CU OXIDES Full Text
AUTORES: FIGUEIREDO, O; DASILVA, JF; RAMOS, AF; NUNES, MR; DOSSANTOS, AC; COSTA, FM;
PUBLICAÇÃO: 1988, FONTE: PHYSICA C, VOLUME: 153, NÚMERO: PART 2
AUTORES: FIGUEIREDO, O; DASILVA, JF; RAMOS, AF; NUNES, MR; DOSSANTOS, AC; COSTA, FM;
PUBLICAÇÃO: 1988, FONTE: PHYSICA C, VOLUME: 153, NÚMERO: PART 2
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