Eugen R. Neagu
AuthID: R-000-HY0
51
TÃTULO: The determination of relaxation parameters and their distributions using thermally stimulated discharge current measurements
AUTORES: Neagu, ER; Neagu, R;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 35, NÚMERO: 18
AUTORES: Neagu, ER; Neagu, R;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 35, NÚMERO: 18
52
TÃTULO: Anomalous isothermal charging and discharging currents in polytetrafluoroethylene Full Text
AUTORES: Neagu, ER; Marat Mendes, JN;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 80, NÚMERO: 22
AUTORES: Neagu, ER; Marat Mendes, JN;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 80, NÚMERO: 22
53
TÃTULO: The study of dipolar and space charges in semicrystalline polymers
AUTORES: Neagu, ER; Marat Mendes, JN; Dias, CJ ; Neagu, R;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 1st International Materials Symposium (Materials 2001) in ADVANCED MATERIALS FORUM I, VOLUME: 230-2
AUTORES: Neagu, ER; Marat Mendes, JN; Dias, CJ ; Neagu, R;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 1st International Materials Symposium (Materials 2001) in ADVANCED MATERIALS FORUM I, VOLUME: 230-2
INDEXADO EM: Scopus WOS
54
TÃTULO: Very low frequency dielectric relaxation deduced from time domain measurements
AUTORES: Neagu, ER; Marat Mendes, JN; Dias, CJ ; Neagu, R;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 1st International Materials Symposium (Materials 2001) in ADVANCED MATERIALS FORUM I, VOLUME: 230-2
AUTORES: Neagu, ER; Marat Mendes, JN; Dias, CJ ; Neagu, R;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 1st International Materials Symposium (Materials 2001) in ADVANCED MATERIALS FORUM I, VOLUME: 230-2
INDEXADO EM: Scopus WOS
55
TÃTULO: Anomalous currents in highly insulating materials
AUTORES: Neagu, ER; Marat Mendes, JN;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 11th International Symposium on Electrets (ISE 11) in 11TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ELECTRETS (ISE 11)
AUTORES: Neagu, ER; Marat Mendes, JN;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 11th International Symposium on Electrets (ISE 11) in 11TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ELECTRETS (ISE 11)
INDEXADO EM: Scopus WOS
56
TÃTULO: Electrical conduction of LDPE at moderate fields
AUTORES: Neagu, RM; Marat Mendes, JN; Neagu, ER;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 11th International Symposium on Electrets in Proceedings - International Symposium on Electrets
AUTORES: Neagu, RM; Marat Mendes, JN; Neagu, ER;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 11th International Symposium on Electrets in Proceedings - International Symposium on Electrets
INDEXADO EM: Scopus
57
TÃTULO: Combined isothermal and non-isothermal current measurements applied to space charge studies in low-density polyethylene
AUTORES: Carmo C Lança; Eugen R Neagu; José N Marat-Mendes;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Journal of Physics D: Applied Physics - J. Phys. D: Appl. Phys., VOLUME: 35, NÚMERO: 8
AUTORES: Carmo C Lança; Eugen R Neagu; José N Marat-Mendes;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Journal of Physics D: Applied Physics - J. Phys. D: Appl. Phys., VOLUME: 35, NÚMERO: 8
INDEXADO EM: CrossRef
58
TÃTULO: Combined isothermal and non-isothermal techniques to analyze charge wrapping and stability in insulating materials
AUTORES: Neagu, ER; Marat Mendes, JN;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS, VOLUME: 40, NÚMERO: 11A
AUTORES: Neagu, ER; Marat Mendes, JN;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS, VOLUME: 40, NÚMERO: 11A
59
TÃTULO: Anomalous transient currents in low-density polyethylene
AUTORES: Neagu, ER; Marat Mendes, JN;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS, VOLUME: 40, NÚMERO: 8A
AUTORES: Neagu, ER; Marat Mendes, JN;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS, VOLUME: 40, NÚMERO: 8A
60
TÃTULO: Nonisothermal and isothermal discharging currents in polyethylene terephthalate at elevated temperatures Full Text
AUTORES: Neagu, ER; Marat Mendes, JN; Neagu, RM; Das Gupta, DK;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 85, NÚMERO: 4
AUTORES: Neagu, ER; Marat Mendes, JN; Neagu, RM; Das Gupta, DK;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 85, NÚMERO: 4