21
TÍTULO: Combined X-ray-Atomic Force Microscopy Tools at the ESRF: The First 10 Years
AUTORES: Luca Costa; Mario S Rodrigues;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: Synchrotron Radiation News, VOLUME: 29, NÚMERO: 6
INDEXADO EM: Scopus CrossRef: 2
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TÍTULO: Influence of spurious resonances on the interaction force in dynamic AFM  Full Text
AUTORES: Luca Costa; Mario S Rodrigues;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: BEILSTEIN JOURNAL OF NANOTECHNOLOGY, VOLUME: 6, NÚMERO: 1
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TÍTULO: Custom AFM for X-ray beamlines: in situ biological investigations under physiological conditions  Full Text
AUTORES: Gumi Audenis, B; Carla, F; Vitorino, MV; Panzarella, A; Porcar, L; Boilot, M; Guerber, S; Bernard, P; Rodrigues, MS; Sanz, F; Giannotti, MI; Costa, L;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: JOURNAL OF SYNCHROTRON RADIATION, VOLUME: 22
INDEXADO EM: Scopus WOS
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TÍTULO: Custom AFM for X-ray beamlines: in situ biological investigations under physiological conditions   Full Text
AUTORES: Gumí-Audenis, B; Carlà, F; Vitorino, MV; Panzarella, A; Porcar, L; Boilot, M; Guerber, S; Bernard, P; Rodrigues, MS; Sanz, F; Giannotti, MI; Costa, L;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: J Synchrotron Radiat - Journal of Synchrotron Radiation - J Synchrotron Rad, VOLUME: 22, NÚMERO: 6
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TÍTULO: Adsorption of zwitterionic assemblies on Si(111)-7 x 7: A joint tunneling spectroscopy and ab initio study
AUTORES: El Garah, M; Palmino, F; Cherioux, F; Melinte, S; Hackens, B; Silveira S Rodrigues; Bogdan, D; Duverger, E;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: PHYSICAL REVIEW B, VOLUME: 85, NÚMERO: 3
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TÍTULO: Haptic localization and shape recognition of Nano Objects
AUTORES: Nigues, A; Venant, N; Rodrigues, M; Comin, F; Florens, JL; Marchi, F;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 25th IEEE/RSJ International Conference on Robotics and Intelligent Systems, IROS 2012 in IEEE International Conference on Intelligent Robots and Systems
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TÍTULO: Haptic localization and shape recognition of Nano Objects
AUTORES: Niguès, A; Venant, N; Rodrigues, M; Comin, F; Florens, JL; Marchi, F;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 2012 IEEE/RSJ INTERNATIONAL CONFERENCE ON INTELLIGENT ROBOTS AND SYSTEMS (IROS)
INDEXADO EM: WOS
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TÍTULO: Integration of an Atomic Force Microscope in a Beamline Sample Environment  Full Text
AUTORES: Rodrigues, MS; Hrouzek, M; Dhez, O; Chevrier, J; Comin, F; Garrett, R; Gentle, I; Nugent, K; Wilkins, S;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 10th International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation in SRI 2009: THE 10TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON SYNCHROTRON RADIATION INSTRUMENTATION, VOLUME: 1234
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TÍTULO: From ensemble average to single (nano-) objects properties by X-ray microdiffraction: a short review on structure determination (local strain, composition, ... ) and objects manipulation (AFM-coupled)
AUTORES: Mocuta, C; Mundboth, K; Stangl, J; Krause, B; Malachias, A; Th. Scheller; Cornelius, T; Paniago, R; Diaz, A; Rodrigues, M; Chevrier, J; Dhez, O; Metzger, TH; Bauer, G; Barbier, A; Ramos, AV; J Guittet; B Moussy; Stanescu, S; Mattana, R; Deranlot, C; Petroff, F; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: REVUE DE METALLURGIE-CAHIERS D INFORMATIONS TECHNIQUES, VOLUME: 107, NÚMERO: 10-11
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TÍTULO: Probing the elastic properties of individual nanostructures by combining in situ atomic force microscopy and micro-x-ray diffraction  Full Text
AUTORES: Scheler, T; Rodrigues, M; Cornelius, TW; Mocuta, C; Malachias, A; Magalhaes Paniago, R; Comin, F; Chevrier, J; Metzger, TH;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 94, NÚMERO: 2
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