Clara Piccirillo
AuthID: R-000-Y4V
81
TÃTULO: Secondary ion mass spectrometric investigation on ruthenium oxide systems: A comparison between poly- and nanocrystalline deposits Full Text
AUTORES: Barison, S; Barreca, D; Daolio, S; Fabrizio, M; Piccirillo, C;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 14, NÚMERO: 14
AUTORES: Barison, S; Barreca, D; Daolio, S; Fabrizio, M; Piccirillo, C;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 14, NÚMERO: 14
82
TÃTULO: Investigations on the formation of RuO2/ZrO2-based electrocatalytic thin films by surface analysis techniques Full Text
AUTORES: Kristof, J; Daolio, S; De Battisti, A; Piccirillo, C; Mihaly, J; Horvath, E;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: LANGMUIR, VOLUME: 15, NÚMERO: 4
AUTORES: Kristof, J; Daolio, S; De Battisti, A; Piccirillo, C; Mihaly, J; Horvath, E;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: LANGMUIR, VOLUME: 15, NÚMERO: 4
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TÃTULO: Secondary ion mass spectrometry characterization of IrO2-Ta2O5 thin films: Effect of relative composition on electrode properties Full Text
AUTORES: Daolio, S; De Battisti, A; Fabrizio, M; Nanni, L; Piccirillo, C;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 12, NÚMERO: 20
AUTORES: Daolio, S; De Battisti, A; Fabrizio, M; Nanni, L; Piccirillo, C;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 12, NÚMERO: 20
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TÃTULO: Electroformed objects for jewelry: Secondary ion mass spectrometry characterization of Au films from CN-free electrolytes Full Text
AUTORES: Fabrizio, M; Piccirillo, C; Daolio, S;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 12, NÚMERO: 13
AUTORES: Fabrizio, M; Piccirillo, C; Daolio, S;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 12, NÚMERO: 13
85
TÃTULO: SIMS characterization of noble metal-based thin film electrodes
AUTORES: Piccirillo, C; Daolio, S; Gelosi, S; Pagura, C; Facchin, B; Kristof, J;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Materials Science Forum, VOLUME: 235-238, NÚMERO: PART 2
AUTORES: Piccirillo, C; Daolio, S; Gelosi, S; Pagura, C; Facchin, B; Kristof, J;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Materials Science Forum, VOLUME: 235-238, NÚMERO: PART 2
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TÃTULO: Role of secondary ion mass spectrometric analysis in the brazing of precious alloys Full Text
AUTORES: Piccirillo, C; Fabrizio, M; Daolio, S; Facchin, B;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 11, NÚMERO: 12
AUTORES: Piccirillo, C; Fabrizio, M; Daolio, S; Facchin, B;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 11, NÚMERO: 12
87
TÃTULO: Hydrolytic reactions in hydrated iridium chloride coatings Full Text
AUTORES: Kristof, J; Mihaly, J; Daolio, S; DeBattisti, A; Nanni, L; Piccirillo, C;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: JOURNAL OF ELECTROANALYTICAL CHEMISTRY, VOLUME: 434, NÚMERO: 1-2
AUTORES: Kristof, J; Mihaly, J; Daolio, S; DeBattisti, A; Nanni, L; Piccirillo, C;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: JOURNAL OF ELECTROANALYTICAL CHEMISTRY, VOLUME: 434, NÚMERO: 1-2
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TÃTULO: Influence of support material on formation of electrocatalytic thin films - A secondary ion mass spectrometry study Full Text
AUTORES: Piccirillo, C; Daolio, S; Kristof, J; Mihaly, J; Facchin, B; Fabrizio, M;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY AND ION PROCESSES, VOLUME: 161, NÚMERO: 1-3
AUTORES: Piccirillo, C; Daolio, S; Kristof, J; Mihaly, J; Facchin, B; Fabrizio, M;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY AND ION PROCESSES, VOLUME: 161, NÚMERO: 1-3
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TÃTULO: Glass sample characterization by secondary ion mass spectrometry
AUTORES: Daolio, S; Piccirillo, C; Pagura, C; Facchin, B; Zecchin, S; Venta, M;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 10, NÚMERO: 10
AUTORES: Daolio, S; Piccirillo, C; Pagura, C; Facchin, B; Zecchin, S; Venta, M;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 10, NÚMERO: 10
90
TÃTULO: Investigation on the formation of RuO2 film electrode by secondary ion mass spectrometry Full Text
AUTORES: Kristof, J; Daolio, S; Piccirillo, C; Facchin, B; Mink, J;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: SURFACE SCIENCE, VOLUME: 348, NÚMERO: 3
AUTORES: Kristof, J; Daolio, S; Piccirillo, C; Facchin, B; Mink, J;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: SURFACE SCIENCE, VOLUME: 348, NÚMERO: 3
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