Alexander Tselev
AuthID: R-00F-RC2
1
TÃTULO: A General Method for Calibration of Active Scanning Thermal Probes Full Text
AUTORES: Tselev, Alexander;
PUBLICAÇÃO: 2024, FONTE: ADVANCED ENGINEERING MATERIALS
AUTORES: Tselev, Alexander;
PUBLICAÇÃO: 2024, FONTE: ADVANCED ENGINEERING MATERIALS
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2
TÃTULO: The Electrocaloric Effect: Materials and Applications
AUTORES: Andrei Kholkin; Oleg Pakhomov; Alexander Semenov; Alexander Tselev;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: The Electrocaloric Effect: Materials and Applications
AUTORES: Andrei Kholkin; Oleg Pakhomov; Alexander Semenov; Alexander Tselev;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: The Electrocaloric Effect: Materials and Applications
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3
TÃTULO: Introduction to the electrocaloric effect
AUTORES: Andrei Kholkin; Alexander Tselev; Alexander Semenov; Oleg Pakhomov;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: The Electrocaloric Effect: Materials and Applications
AUTORES: Andrei Kholkin; Alexander Tselev; Alexander Semenov; Oleg Pakhomov;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: The Electrocaloric Effect: Materials and Applications
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4
TÃTULO: Electrocaloric-based applications: Challenges and perspectives
AUTORES: Andrei Kholkin; Svitlana Kopyl; Alexander Tselev; Gunnar Suchaneck;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: The Electrocaloric Effect: Materials and Applications
AUTORES: Andrei Kholkin; Svitlana Kopyl; Alexander Tselev; Gunnar Suchaneck;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: The Electrocaloric Effect: Materials and Applications
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5
TÃTULO: Polarization-controlled volatile ferroelectric and capacitive switching in Sn2P2S6
AUTORES: Neumayer, Sabine M.; Ievlev, Anton, V; Tselev, Alexander; Basun, Sergey A.; Conner, Benjamin S.; Susner, Michael A.; Maksymovych, Petro;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: NEUROMORPHIC COMPUTING AND ENGINEERING, VOLUME: 3, NÚMERO: 1
AUTORES: Neumayer, Sabine M.; Ievlev, Anton, V; Tselev, Alexander; Basun, Sergey A.; Conner, Benjamin S.; Susner, Michael A.; Maksymovych, Petro;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: NEUROMORPHIC COMPUTING AND ENGINEERING, VOLUME: 3, NÚMERO: 1
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6
TÃTULO: Influence of voltage amplitude parameters on the electrocaloric response in ferroelectric materials Full Text
AUTORES: Es'kov, A., V; Anokhin, A. S.; Pakhomov, O., V; Kholkin, A.; Tselev, A.; Ondrejkovic, P.;
PUBLICAÇÃO: 2022, FONTE: FERROELECTRICS, VOLUME: 591, NÚMERO: 1
AUTORES: Es'kov, A., V; Anokhin, A. S.; Pakhomov, O., V; Kholkin, A.; Tselev, A.; Ondrejkovic, P.;
PUBLICAÇÃO: 2022, FONTE: FERROELECTRICS, VOLUME: 591, NÚMERO: 1
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7
TÃTULO: Influence of voltage amplitude parameters on the electrocaloric response in ferroelectric materials
AUTORES: Es’kov, AV; Anokhin, AS; Pakhomov, OV; Kholkin, A; Tselev, A; Ondrejkovič, P;
PUBLICAÇÃO: 2022, FONTE: Ferroelectrics, VOLUME: 591, NÚMERO: 1
AUTORES: Es’kov, AV; Anokhin, AS; Pakhomov, OV; Kholkin, A; Tselev, A; Ondrejkovič, P;
PUBLICAÇÃO: 2022, FONTE: Ferroelectrics, VOLUME: 591, NÚMERO: 1
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8
TÃTULO: Local electronic transport across probe/ionic conductor interface in scanning probe microscopy Full Text
AUTORES: Romanyuk, KN; Alikin, DO; Slautin, BN; Tselev, A; Ya Y Shur; Kholkin, AL;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: ULTRAMICROSCOPY, VOLUME: 220
AUTORES: Romanyuk, KN; Alikin, DO; Slautin, BN; Tselev, A; Ya Y Shur; Kholkin, AL;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: ULTRAMICROSCOPY, VOLUME: 220
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9
TÃTULO: Multiferroic properties of barium strontium titanate ceramics doped with gadolinium and iron Full Text
AUTORES: Es'kov, AV; Anokhin, AS; Pakhomov, OV; Semenov, AA; Fadeev, E; Dedyk, A; Kholkin, A; Tselev, A; Baranov, IV; Lahderanta, E;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: FERROELECTRICS, VOLUME: 574, NÚMERO: 1
AUTORES: Es'kov, AV; Anokhin, AS; Pakhomov, OV; Semenov, AA; Fadeev, E; Dedyk, A; Kholkin, A; Tselev, A; Baranov, IV; Lahderanta, E;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: FERROELECTRICS, VOLUME: 574, NÚMERO: 1
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10
TÃTULO: Tunable Microwave Conductance of Nanodomains in Ferroelectric PbZr0.2Ti0.8O3 Thin Film
AUTORES: Burns, SR; Tselev, A; Ievlev, AV; Agar, JC; Martin, LW; Kalinin, SV; Sando, D; Maksymovych, P;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: ADVANCED ELECTRONIC MATERIALS
AUTORES: Burns, SR; Tselev, A; Ievlev, AV; Agar, JC; Martin, LW; Kalinin, SV; Sando, D; Maksymovych, P;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: ADVANCED ELECTRONIC MATERIALS
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