Chuan Li
AuthID: R-00H-6KR
1
TÃTULO: Sliced Wasserstein cycle consistency generative adversarial networks for fault data augmentation of an industrial robot Full Text
AUTORES: Pu, Ziqiang; Cabrera, Diego; Li, Chuan; de Oliveira, Jose Valente ;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS, VOLUME: 222
AUTORES: Pu, Ziqiang; Cabrera, Diego; Li, Chuan; de Oliveira, Jose Valente ;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS, VOLUME: 222
2
TÃTULO: Generative adversarial one-shot diagnosis of transmission faults for industrial robots
AUTORES: Pu, Ziqiang; Cabrera, Diego; Bai, Yun; Li, Chuan;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: ROBOTICS AND COMPUTER-INTEGRATED MANUFACTURING, VOLUME: 83
AUTORES: Pu, Ziqiang; Cabrera, Diego; Bai, Yun; Li, Chuan;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: ROBOTICS AND COMPUTER-INTEGRATED MANUFACTURING, VOLUME: 83
INDEXADO EM: Scopus WOS
3
TÃTULO: Sliced Wasserstein cycle consistency generative adversarial networks for fault data augmentation of an industrial robot
AUTORES: Ziqiang Pu; Diego Cabrera; Chuan Li; José Valente de Oliveira;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: Expert Syst. Appl., VOLUME: 222
AUTORES: Ziqiang Pu; Diego Cabrera; Chuan Li; José Valente de Oliveira;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: Expert Syst. Appl., VOLUME: 222
INDEXADO EM: DBLP
4
TÃTULO: A One-Class Generative Adversarial Detection Framework for Multifunctional Fault Diagnoses
AUTORES: Pu, ZQ; Cabrera, D; Bai, Y; Li, CA;
PUBLICAÇÃO: 2022, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL ELECTRONICS, VOLUME: 69, NÚMERO: 8
AUTORES: Pu, ZQ; Cabrera, D; Bai, Y; Li, CA;
PUBLICAÇÃO: 2022, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL ELECTRONICS, VOLUME: 69, NÚMERO: 8
INDEXADO EM: WOS
5
TÃTULO: VGAN: Generalizing MSE GAN and WGAN-GP for Robot Fault Diagnosis
AUTORES: Ziqiang Pu; Diego Cabrera; Chuan Li; José Valente de Oliveira ;
PUBLICAÇÃO: 2022, FONTE: IEEE Intell. Syst., VOLUME: 37, NÚMERO: 3
AUTORES: Ziqiang Pu; Diego Cabrera; Chuan Li; José Valente de Oliveira ;
PUBLICAÇÃO: 2022, FONTE: IEEE Intell. Syst., VOLUME: 37, NÚMERO: 3
INDEXADO EM: DBLP
6
TÃTULO: Fusing convolutional generative adversarial encoders for 3D printer fault detection with only normal condition signals Full Text
AUTORES: Li, C; Cabrera, D; Sancho, F; Sanchez, RV; Cerrada, M; Long, JY; de Oliveira, JV ;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: MECHANICAL SYSTEMS AND SIGNAL PROCESSING, VOLUME: 147
AUTORES: Li, C; Cabrera, D; Sancho, F; Sanchez, RV; Cerrada, M; Long, JY; de Oliveira, JV ;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: MECHANICAL SYSTEMS AND SIGNAL PROCESSING, VOLUME: 147
7
TÃTULO: Regression modeling for enterprise electricity consumption: A comparison of recurrent neural network and its variants
AUTORES: Yun Bai; Jingjing J Xie; Chao Liu; Ying Tao; Bo Zeng; Chuan Li;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRICAL POWER & ENERGY SYSTEMS, VOLUME: 126
AUTORES: Yun Bai; Jingjing J Xie; Chao Liu; Ying Tao; Bo Zeng; Chuan Li;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRICAL POWER & ENERGY SYSTEMS, VOLUME: 126
INDEXADO EM: Scopus WOS
8
TÃTULO: Fault Diagnosis for Wind Turbine Gearboxes by Using Deep Enhanced Fusion Network
AUTORES: Ziqiang Q Pu; Chuan Li; Shaohui H Zhang; Yun Bai;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 70
AUTORES: Ziqiang Q Pu; Chuan Li; Shaohui H Zhang; Yun Bai;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 70
INDEXADO EM: Scopus WOS
9
TÃTULO: A manufacturing quality prediction model based on AdaBoost-LSTM with rough knowledge Full Text
AUTORES: Bai, Y; Xie, JJ; Wang, DQ; Zhang, WJ; Li, C;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: COMPUTERS & INDUSTRIAL ENGINEERING, VOLUME: 155
AUTORES: Bai, Y; Xie, JJ; Wang, DQ; Zhang, WJ; Li, C;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: COMPUTERS & INDUSTRIAL ENGINEERING, VOLUME: 155
INDEXADO EM: Scopus WOS
10
TÃTULO: One-Shot Fault Diagnosis of Three-Dimensional Printers Through Improved Feature Space Learning
AUTORES: Chuan Li; Diego Cabrera; Fernando Sancho; René Vinicio Sánchez; Mariela Cerrada; José Valente de Oliveira ;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: IEEE Trans. Ind. Electron., VOLUME: 68, NÚMERO: 9
AUTORES: Chuan Li; Diego Cabrera; Fernando Sancho; René Vinicio Sánchez; Mariela Cerrada; José Valente de Oliveira ;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: IEEE Trans. Ind. Electron., VOLUME: 68, NÚMERO: 9
INDEXADO EM: DBLP