21
TÍTULO: Social Engineering Penetration Testing in Higher Education Institutions
AUTORES: Roman Marusenko; Volodymyr Sokolov; Pavlo Skladannyi;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: Lecture Notes on Data Engineering and Communications Technologies, VOLUME: 181
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
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22
TÍTULO: MODEL FOR CALCULATING THE COSTS OF A BUG BOUNTY PROGRAM FOR TESTING SECURITY VULNERABILITIES
AUTORES: Feodosiy Kipchuk; Volodymyr Sokolov;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: Cybersecurity: Education, Science, Technique, VOLUME: 2, NÚMERO: 22
INDEXADO EM: CrossRef
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23
TÍTULO: ZigBee Network Resistance to Jamming Attacks
AUTORES: Volodymyr Sokolov; Pavlo Skladannyi; Nataliia Korshun;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: 2023 IEEE International Conference on Information and Telecommunication Technologies and Radio Electronics (UkrMiCo)
INDEXADO EM: CrossRef: 1
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24
TÍTULO: Wi-Fi Interference Resistance to Jamming Attack
AUTORES: Volodymyr Sokolov; Pavlo Skladannyi; Volodymyr Astapenya;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: 2023 IEEE 5th International Conference on Advanced Information and Communication Technologies (AICT)
INDEXADO EM: CrossRef
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25
TÍTULO: Wi-Fi Repeater Influence on Wireless Access
AUTORES: Volodymyr Sokolov; Pavlo Skladannyi; Nataliia Mazur;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: 2023 IEEE 5th International Conference on Advanced Information and Communication Technologies (AICT)
INDEXADO EM: CrossRef: 1
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26
TÍTULO: Dynamic model of guarantee capacity and cyber security management in the critical automated system PDF
AUTORES: Hennadii Hulak; Pavlo Skladannyi; Volodymyr Sokolov; Yevhen Hulak; Viktor Korniiets;
PUBLICAÇÃO: 2022, FONTE: 2nd International Conference on Conflict Management in Global Information Networks (CMiGIN 2022), Kyiv, Ukraine, November 30, 2022., VOLUME: 3530
INDEXADO EM: Scopus DBLP
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27
TÍTULO: Method for Increasing the Various Sources Data Consistency for IoT Sensors
AUTORES: Volodymyr Sokolov; Feodosiy Kipchuk; Pavlo Skladannyi; Oleksii Zhyltsov; Dmytro Ageyev;
PUBLICAÇÃO: 2022, FONTE: 2022 IEEE 9th International Conference on Problems of Infocommunications, Science and Technology (PIC S&T)
INDEXADO EM: CrossRef: 1
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