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An Improved Extraction Method for the Trapping Time Constants in Gan Hemts
AuthID
P-00Z-00X
4
Author(s)
Lopes, C
·
Nunes, C
·
Cabral, M
·
Pedro, C
Tipo de Documento
Proceedings Paper
Year published
2023
Publicado
in
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest,
ISSN: 0149-645X
Volume: 2023-June, Páginas: 771-774 (3)
Conference
2023 Ieee/Mtt-S International Microwave Symposium, Ims 2023,
Date:
11 June 2023 through 16 June 2023,
Location:
San Diego
Indexing
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Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1109/ims37964.2023.10188191
SCOPUS
: 2-s2.0-85168549289
Source Identifiers
ISSN
: 0149-645X
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