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In Situ Tem Study of Grain Growth in Nanocrystalline Copper Thin Films
AuthID
P-003-7HK
5
Author(s)
Simoes, S
·
Calinas, R
·
Vieira, MT
·
Vieira, MF
·
Ferreira, PJ
Tipo de Documento
Article
Year published
2010
Publicado
in
NANOTECHNOLOGY,
ISSN: 0957-4484
Volume: 21, Número: 14, Páginas: 145701 (12)
Indexing
Wos
®
Scopus
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Crossref
®
104
Pubmed
®
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Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1088/0957-4484/21/14/145701
Pubmed
: 20215662
SCOPUS
: 2-s2.0-77949558091
Wos
: WOS:000275652200037
Source Identifiers
ISSN
: 0957-4484
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