Impedance Measurement Using Sine Fitting Algorithms

AuthID
 P-011-R47
3
Author(s)
Fonseca da Silva M.
·
Miguel Ramos P.
·
Tipo de Documento
Proceedings Paper
Year published
2002
Publicado
in 12th IMEKO TC4 International Symposium Electrical Measurements and Instrumentation
Páginas: 199-204 (5)
Indexing
Scopus®
Publication Identifiers
SCOPUS: 2-s2.0-84962052646
Export Publication Metadata
Lista Marked
 Adicionar à lista Marked
Info
At this moment we don't have any links to full text documens.

Um espaço para investigadores e suas Instituições

Links Úteis

Ajuda

© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved Política de Privacidade | Terms of Service