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The Impact of Long-Term Memory Effects on Diode Power Probes
AuthID
P-003-DDT
5
Author(s)
Gomes, H
·
Testera, AR
·
Carvalho, NB
·
Barciela, MF
·
Remley, KA
Tipo de Documento
Proceedings Paper
Year published
2010
Publicado
in
2010 IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAVE SYMPOSIUM DIGEST (MTT)
in
IEEE MTT-S International Microwave Symposium,
ISSN: 0149-645X
Páginas: 596-599 (4)
Conference
Ieee Mtt-S International Microwave Symposium Digest,
Date:
MAY 23-28, 2010,
Location:
Anaheim, CA,
Patrocinadores:
IEEE
Indexing
Wos
®
Scopus
®
Crossref
®
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1109/mwsym.2010.5514791
SCOPUS
: 2-s2.0-77957769400
Wos
: WOS:000288196500151
Source Identifiers
ISSN
: 0149-645X
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