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A Comprehensive Analysis of Electron Emission from A-Si:h/Al2O3 at Low Energies
AuthID
P-015-DZH
8
Author(s)
Löffler, J
·
Belhaj, M
·
Bundaleski, N
·
Diaz Leon, JJ
·
Thomet, J
·
Frey, S
·
Ballif, C
·
Wyrsch, N
Tipo de Documento
Article
Year published
2023
Publicado
in
Journal of Physics D: Applied Physics,
ISSN: 0022-3727
Volume: 56, Número: 6, Páginas: 065306
Indexing
Crossref
®
1
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®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1088/1361-6463/acaf37
Source Identifiers
ISSN
: 0022-3727
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