Toggle navigation
Publicações
Investigadores
Instituições
0
Entrar
Autenticação Federada
(Clique na imagem)
Autenticação local
Recuperar Palavra-passe
Registar
Entrar
Publicações
Pesquisar
Estatísticas
Study of Graded Ni-Ti Shape Memory Alloy Film Growth on Si(100) Substrate
AuthID
P-003-ZGZ
8
Author(s)
Martins, RMS
·
Schell, N
·
Muecklich, A
·
Reuther, H
·
Beckers, M
·
Silva, RJC
·
Pereira, L
·
Fernandes, FMB
Tipo de Documento
Article
Year published
2008
Publicado
in
APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING,
ISSN: 0947-8396
Volume: 91, Número: 2, Páginas: 291-299 (9)
Indexing
Wos
®
Scopus
®
Crossref
®
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1007/s00339-008-4397-2
SCOPUS
: 2-s2.0-40949085553
Wos
: WOS:000254086700016
Source Identifiers
ISSN
: 0947-8396
Export Publication Metadata
Exportar
×
Publication Export Settings
BibTex
EndNote
APA
Export Preview
Lista
Marked
Adicionar à lista
Marked
Info
At this moment we don't have any links to full text documens.
×
Selecione a Fonte
Esta publicação tem:
2 registos no
ISI
2 registos no
SCOPUS
2 registos no
DBLP
2 registos no
Unpaywall
2 registos no
Openlibrary
2 registos no
Handle
Por favor selecione o registo que deve ser utilizado pelo Authenticus.
×
Comparar Publicações
© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved
Política de Privacidade
|
Terms of Service