Toggle navigation
Publicações
Investigadores
Instituições
0
Entrar
Autenticação Federada
(Clique na imagem)
Autenticação local
Recuperar Palavra-passe
Registar
Entrar
Publicações
Pesquisar
Estatísticas
Radiation-Induced Structural Transformations in a Silicon Layer of Soi
AuthID
P-004-8MW
6
Author(s)
Shcherbachev, KD
·
Bublik, VT
·
Mordkovich, VN
·
Pazhin, DM
·
Alves, E
·
Barradas, NP
Tipo de Documento
Article
Year published
2007
Publicado
in
PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE,
ISSN: 0031-8965
Volume: 204, Número: 8, Páginas: 2645-2650 (6)
Conference
8Th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging,
Date:
SEP 19-22, 2006,
Location:
Baden-Baden, GERMANY
Indexing
Wos
®
Scopus
®
Crossref
®
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1002/pssa.200675698
SCOPUS
: 2-s2.0-34548273027
Wos
: WOS:000249065000022
Source Identifiers
ISSN
: 0031-8965
Export Publication Metadata
Exportar
×
Publication Export Settings
BibTex
EndNote
APA
Export Preview
Lista
Marked
Adicionar à lista
Marked
Info
At this moment we don't have any links to full text documens.
×
Selecione a Fonte
Esta publicação tem:
2 registos no
ISI
2 registos no
SCOPUS
2 registos no
DBLP
2 registos no
Unpaywall
2 registos no
Openlibrary
2 registos no
Handle
Por favor selecione o registo que deve ser utilizado pelo Authenticus.
×
Comparar Publicações
© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved
Política de Privacidade
|
Terms of Service