Toggle navigation
Publicações
Investigadores
Instituições
0
Entrar
Autenticação Federada
(Clique na imagem)
Autenticação local
Recuperar Palavra-passe
Registar
Entrar
Publicações
Pesquisar
Estatísticas
Optical Doping of Zno with Tm by Ion Implantation
AuthID
P-000-E1N
7
Author(s)
Rita, E
·
Alves, E
·
Wahl, U
·
Correia, JG
·
Neves, AJ
·
Soares, MJ
·
Monteiro, T
1
Editor(es)
Bonde Nielsen K.Nylandsted Larsen A.Weyer G.
Tipo de Documento
Article
Year published
2003
Publicado
in
PHYSICA B-CONDENSED MATTER,
ISSN: 0921-4526
Volume: 340, Páginas: 235-239 (5)
Conference
22Nd International Conference on Defects in Semiconductors (Icds-22),
Date:
JUL 28-AUG 01, 2003,
Location:
AARHUS, DENMARK,
Host:
UNIV AARHUS
Indexing
Wos
®
Scopus
®
Crossref
®
25
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1016/j.physb.2003.09.017
SCOPUS
: 2-s2.0-0347764789
Wos
: WOS:000188300200042
Source Identifiers
ISSN
: 0921-4526
Export Publication Metadata
Exportar
×
Publication Export Settings
BibTex
EndNote
APA
Export Preview
Lista
Marked
Adicionar à lista
Marked
Info
At this moment we don't have any links to full text documens.
×
Selecione a Fonte
Esta publicação tem:
2 registos no
ISI
2 registos no
SCOPUS
2 registos no
DBLP
2 registos no
Unpaywall
2 registos no
Openlibrary
2 registos no
Handle
Por favor selecione o registo que deve ser utilizado pelo Authenticus.
×
Comparar Publicações
© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved
Política de Privacidade
|
Terms of Service