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Spectroscopic Ellipsometry Study of Nickel Induced Crystallization of A-Si
AuthID
P-004-K65
6
Author(s)
Pereira, L
·
Aguas, H
·
Beckers, M
·
Martins, RMS
·
Fortunato, E
·
Martins, R
Tipo de Documento
Article
Year published
2006
Publicado
in
JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS,
ISSN: 0022-3093
Volume: 352, Número: 9-20, Páginas: 1204-1208 (5)
Conference
21St International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors,
Date:
SEP 04-09, 2005,
Location:
Lisbon, PORTUGAL
Indexing
Wos
®
Scopus
®
Crossref
®
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1016/j.jnoncrysol.2006.02.018
SCOPUS
: 2-s2.0-33745450387
Wos
: WOS:000238782900083
Source Identifiers
ISSN
: 0022-3093
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