Toggle navigation
Publicações
Investigadores
Instituições
0
Entrar
Autenticação Federada
(Clique na imagem)
Autenticação local
Recuperar Palavra-passe
Registar
Entrar
Publicações
Pesquisar
Estatísticas
Studies of Radiation Effects in the Na60 Silicon Pixel Detectors
AuthID
P-000-2CJ
9
Author(s)
Keil, M
·
Banicz, K
·
Brugger, M
·
Floris, M
·
Heuser, JM
·
Lourenco, C
·
Ohnishi, H
·
Radermacher, E
·
Usai, G
Tipo de Documento
Article
Year published
2005
Publicado
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT,
ISSN: 0168-9002
Volume: 546, Número: 3, Páginas: 448-456 (9)
Indexing
Wos
®
Scopus
®
Crossref
®
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1016/j.nima.2005.02.044
SCOPUS
: 2-s2.0-20744433337
Wos
: WOS:000230538800010
Source Identifiers
ISSN
: 0168-9002
Export Publication Metadata
Exportar
×
Publication Export Settings
BibTex
EndNote
APA
Export Preview
Lista
Marked
Adicionar à lista
Marked
Info
At this moment we don't have any links to full text documens.
×
Selecione a Fonte
Esta publicação tem:
2 registos no
ISI
2 registos no
SCOPUS
2 registos no
DBLP
2 registos no
Unpaywall
2 registos no
Openlibrary
2 registos no
Handle
Por favor selecione o registo que deve ser utilizado pelo Authenticus.
×
Comparar Publicações
© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved
Política de Privacidade
|
Terms of Service