Interpretation of Double X-Ray Diffraction Peaks from Ingan Layers

AuthID
 P-000-TAC
7
Author(s)
O'Donnell, KP
·
Sequeira, AD
·
Tipo de Documento
Article
Year published
2001
Publicado
in APPLIED PHYSICS LETTERS, ISSN: 0003-6951
Volume: 79, Número: 10, Páginas: 1432-1434 (3)
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Crossref®46
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Publication Identifiers
SCOPUS: 2-s2.0-0346942383
Wos: WOS:000170647200008
Source Identifiers
ISSN: 0003-6951
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