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Fe Ion Implantation in Gan: Damage, Annealing, and Lattice Site Location
AuthID
P-000-V2S
6
Author(s)
Liu, C
·
Alves, E
·
Sequeira, AD
·
Franco, N
·
da Silva, MF
·
Soares, JC
Tipo de Documento
Article
Year published
2001
Publicado
in
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
ISSN: 0021-8979
Volume: 90, Número: 1, Páginas: 81-86 (6)
Indexing
Wos
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Scopus
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Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1063/1.1377606
SCOPUS
: 2-s2.0-0035397075
Wos
: WOS:000169361100011
Source Identifiers
ISSN
: 0021-8979
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