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In-Situ Tem Annealing of Nanocrystalline Copper Thin Films
AuthID
P-008-HFX
6
Author(s)
Simoes, S
·
Calinas, R
·
Ferreira, PJ
·
Viana, F
·
Vieira, MT
·
Vieira, MF
Tipo de Documento
Note
Year published
2007
Publicado
in
Microscopy and Microanalysis,
ISSN: 1431-9276
Volume: 13, Número: SUPPL.2, Páginas: 574-575
Indexing
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Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1017/s1431927607078622
SCOPUS
: 2-s2.0-84888263561
Source Identifiers
ISSN
: 1431-9276
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