Toggle navigation
Publicações
Investigadores
Instituições
0
Entrar
Autenticação Federada
(Clique na imagem)
Autenticação local
Recuperar Palavra-passe
Registar
Entrar
Publicações
Pesquisar
Estatísticas
Modelling Of High Level Epidrain Effects In Vvmos Structures.
AuthID
P-008-XB9
2
Author(s)
Costa Freire, J
·
Teixeria Pedro, LB
Tipo de Documento
Proceedings Paper
Year published
1983
Publicado
Conference
Proceedings of Melecon 83, Mediterranean Electrotechnical Conference.,
Location:
Athens, Greece,
Patrocinadores:
IEEE Region 8
Indexing
Scopus
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
SCOPUS
: 2-s2.0-0020942601
Export Publication Metadata
Exportar
×
Publication Export Settings
BibTex
EndNote
APA
Export Preview
Lista
Marked
Adicionar à lista
Marked
Info
At this moment we don't have any links to full text documens.
×
Selecione a Fonte
Esta publicação tem:
2 registos no
ISI
2 registos no
SCOPUS
2 registos no
DBLP
2 registos no
Unpaywall
2 registos no
Openlibrary
2 registos no
Handle
Por favor selecione o registo que deve ser utilizado pelo Authenticus.
×
Comparar Publicações
© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved
Política de Privacidade
|
Terms of Service