Toggle navigation
Publicações
Investigadores
Instituições
0
Entrar
Autenticação Federada
(Clique na imagem)
Autenticação local
Recuperar Palavra-passe
Registar
Entrar
Publicações
Pesquisar
Estatísticas
Seeding Effect on the Fatigue Behaviour of Pzt Thin Films
AuthID
P-000-X8Y
5
Author(s)
Wu, AY
·
Vilarinho, PM
·
Kholkin, AL
·
Salvado, IMM
·
Baptista, JL
Tipo de Documento
Article
Year published
2001
Publicado
in
INTEGRATED FERROELECTRICS,
ISSN: 1058-4587
Volume: 37, Número: 1-4, Páginas: 475-484 (10)
Conference
13Th International Symposium on Integrated Ferroelectrics,
Date:
MAR 11-14, 2001,
Location:
COLORADO SPRINGS, COLORADO,
Patrocinadores:
aixACCT, Aixtron, Panasonic, Ramtron, Symetrix, Int Journal Integraded Ferroelect
Indexing
Wos
®
Scopus
®
Crossref
®
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1080/10584580108015674
SCOPUS
: 2-s2.0-3142690219
Wos
: WOS:000173066400017
Source Identifiers
ISSN
: 1058-4587
Export Publication Metadata
Exportar
×
Publication Export Settings
BibTex
EndNote
APA
Export Preview
Lista
Marked
Adicionar à lista
Marked
Info
At this moment we don't have any links to full text documens.
×
Selecione a Fonte
Esta publicação tem:
2 registos no
ISI
2 registos no
SCOPUS
2 registos no
DBLP
2 registos no
Unpaywall
2 registos no
Openlibrary
2 registos no
Handle
Por favor selecione o registo que deve ser utilizado pelo Authenticus.
×
Comparar Publicações
© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved
Política de Privacidade
|
Terms of Service