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Goodness-Of-Fit Tests for a Semiparametric Model Under Random Double Truncation
AuthID
P-009-VYE
3
Author(s)
Moreira, C
·
de Una Alvarez, J
·
Van Keilegom, I
Tipo de Documento
Article
Year published
2014
Publicado
in
COMPUTATIONAL STATISTICS,
ISSN: 0943-4062
Volume: 29, Número: 5, Páginas: 1365-1379 (15)
Indexing
Wos
®
Scopus
®
Crossref
®
14
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®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1007/s00180-014-0496-z
SCOPUS
: 2-s2.0-84939884457
Wos
: WOS:000342421800024
Source Identifiers
ISSN
: 0943-4062
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