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The Effect of Microlenses in Photodiodes' Dark Current Measurement
AuthID
P-009-Z1P
5
Author(s)
Rocha, RP
·
Maciel, MJ
·
Gomes, JM
·
Correia, JH
·
Carmo, JP
Tipo de Documento
Proceedings Paper
Year published
2014
Publicado
in
2014 SCIENCE AND INFORMATION CONFERENCE (SAI)
Páginas: 868-870 (3)
Conference
Science and Information Conference (Sai),
Date:
AUG 27-29, 2014,
Location:
Sci & Informat Org, London, ENGLAND,
Patrocinadores:
Microsoft, RK Trans2Cloud, Springer, IEEE Comp Soc, UKRI Sect, IEEE Computat Intelligence Soc, UKRI Sect, IEEE,
Host:
Sci & Informat Org
Indexing
Wos
®
Scopus
®
Crossref
®
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1109/sai.2014.6918287
SCOPUS
: 2-s2.0-84909592360
Wos
: WOS:000367072600120
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