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Thin-Film Characterization for High-Temperature Applications
AuthID
P-001-7JR
5
Author(s)
Lourenco, MJ
·
Serra, JM
·
Nunes, MR
·
Vallera, AM
·
de Castro, CAN
Tipo de Documento
Article
Year published
1998
Publicado
in
INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMOPHYSICS,
ISSN: 0195-928X
Volume: 19, Número: 4, Páginas: 1253-1265 (13)
Conference
13Th Symposium on Thermophysical Properties,
Date:
JUN 22-27, 1997,
Location:
BOULDER, COLORADO,
Patrocinadores:
Amer Soc Mech Engineers, Heat Transfer Div, Standing Comm Thermophys Properties, Natl Inst Stand & Technol, Chem Sci & Technol Lab, Phys & Chem Properties Div,
Host:
UNIV COLORADO
Indexing
Wos
®
Scopus
®
Crossref
®
15
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®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1023/a:1022614431285
SCOPUS
: 2-s2.0-0032108361
Wos
: WOS:000077286300023
Source Identifiers
ISSN
: 0195-928X
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