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Enhanced X-Ray Yields from Insulating Samples
AuthID
P-001-8E8
3
Author(s)
Jesus, AP
·
Reis, MA
·
Alves, LC
Tipo de Documento
Article
Year published
1998
Publicado
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
ISSN: 0168-583X
Volume: 136, Páginas: 837-840 (4)
Conference
13Th International Conference on Ion Beam Analysis (Iba-13),
Date:
JUL 27-AUG 01, 1997,
Location:
LISBON, PORTUGAL
Indexing
Wos
®
Scopus
®
Crossref
®
12
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1016/s0168-583x(97)00670-8
SCOPUS
: 2-s2.0-0032018994
Wos
: WOS:000074380400147
Source Identifiers
ISSN
: 0168-583X
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