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Generation of Test Patterns for Differential Diagnosis of Digital Circuits
AuthID
P-001-9N3
2
Author(s)
Azevedo, F
·
Barahona, P
2
Editor(es)
Maher, M; Puget, JF
Tipo de Documento
Article
Year published
1998
Publicado
in
PRINCIPLES AND PRACTICE OF CONSTRAINT PROGRAMMING - CP98
in
Lecture Notes in Computer Science,
ISSN: 0302-9743
Volume: 1520, Páginas: 462-462 (1)
Conference
4Th International Conference on Principles and Practice of Constraint Programming (Cp 98),
Date:
OCT 26-30, 1998,
Location:
PISA, ITALY,
Patrocinadores:
AAAI, EATCS, AI IA, APT Pisa, Compulog Net, Cosytec, ILOG, Prologia, Sintef, Tosco Dati, GNIM CNR
Indexing
Wos
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
Wos
: WOS:000086630300032
Source Identifiers
ISSN
: 0302-9743
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