Dependence of Ne+ Scattered Ion Yield on Incident Energy for Surfaces of Pure Gallium and Indium

AuthID
 P-00F-R63
3
Author(s)
Daolio, S
·
Pagura, C
Tipo de Documento
Article
Year published
2004
Publicado
in Izvestiya Akademii Nauk. Ser. Fizicheskaya, ISSN: 0367-6765
Volume: 68, Número: 3, Páginas: 348-351
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Publication Identifiers
SCOPUS: 2-s2.0-1942484333
Source Identifiers
ISSN: 0367-6765
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