Toggle navigation
Publicações
Investigadores
Instituições
0
Entrar
Autenticação Federada
(Clique na imagem)
Autenticação local
Recuperar Palavra-passe
Registar
Entrar
Publicações
Pesquisar
Estatísticas
Electrical Analysis of Niobium Oxide Thin Films
AuthID
P-00G-463
5
Author(s)
Graca, MPF
·
Saraiva, M
·
Freire, FNA
·
Valente, MA
·
Costa, LC
Tipo de Documento
Article
Year published
2015
Publicado
in
THIN SOLID FILMS,
ISSN: 0040-6090
Volume: 585, Número: 1, Páginas: 95-99 (5)
Indexing
Wos
®
Scopus
®
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1016/j.tsf.2015.02.047
SCOPUS
: 2-s2.0-84933280450
Wos
: WOS:000353982800018
Source Identifiers
ISSN
: 0040-6090
Export Publication Metadata
Exportar
×
Publication Export Settings
BibTex
EndNote
APA
Export Preview
Lista
Marked
Adicionar à lista
Marked
Info
At this moment we don't have any links to full text documens.
×
Selecione a Fonte
Esta publicação tem:
2 registos no
ISI
2 registos no
SCOPUS
2 registos no
DBLP
2 registos no
Unpaywall
2 registos no
Openlibrary
2 registos no
Handle
Por favor selecione o registo que deve ser utilizado pelo Authenticus.
×
Comparar Publicações
© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved
Política de Privacidade
|
Terms of Service