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Electron Paramagnetic Resonance of Defects in Doped Microcrystalline Silicon
AuthID
P-00H-65T
7
Author(s)
Lavado, M
·
Martins, R
·
Ferreira, I
·
Lavareda, G
·
Fortunato, E
·
Vieira, M
·
Guimarães, L
Tipo de Documento
Article
Year published
1989
Publicado
in
Vacuum,
ISSN: 0042-207X
Volume: 39, Número: 7-8, Páginas: 791-794
Indexing
Crossref
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Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1016/0042-207x(89)90039-0
Source Identifiers
ISSN
: 0042-207X
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