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Surface Analysis of the Nanostructured W–Ti Thin Film Deposited on Silicon
AuthID
P-00H-7JQ
8
Author(s)
Petrović, S
·
Bundaleski, N
·
Peruško, D
·
Radović, M
·
Kovač, J
·
Mitrić, M
·
Gaković, B
·
Rakočević, Z
Tipo de Documento
Article
Year published
2007
Publicado
in
Applied Surface Science,
ISSN: 0169-4332
Volume: 253, Número: 12, Páginas: 5196-5202
Indexing
Crossref
®
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1016/j.apsusc.2006.10.077
Source Identifiers
ISSN
: 0169-4332
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