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Spectroscopic Ellipsometry Study of Amorphous Silicon Anodically Oxidised
AuthID
P-00H-FB2
6
Author(s)
Águas, H
·
Gonçalves, A
·
Pereira, L
·
Silva, R
·
Fortunato, E
·
Martins, R
Tipo de Documento
Article
Year published
2003
Publicado
in
Thin Solid Films,
ISSN: 0040-6090
Volume: 427, Número: 1-2, Páginas: 345-349
Indexing
Crossref
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Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1016/s0040-6090(02)01220-8
Source Identifiers
ISSN
: 0040-6090
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