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Quantitative Elemental Analysis of Thick Samples by Xrf and Pixe
AuthID
P-001-SHG
4
Author(s)
GIL, FB
·
BARREIRA, G
·
GUERRA, MF
·
ALVES, LC
Tipo de Documento
Article
Year published
1989
Publicado
in
X-RAY SPECTROMETRY,
ISSN: 0049-8246
Volume: 18, Número: 4, Páginas: 157-164 (8)
Indexing
Wos
®
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Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1002/xrs.1300180406
Wos
: WOS:A1989AM67800005
Source Identifiers
ISSN
: 0049-8246
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