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Characterization of Tial Diffusion Bonds Using Ni/Ti Nanolayers
AuthID
P-00K-9V3
5
Author(s)
Simões, S
·
Viana, F
·
Ramos, AS
·
Vieira, MT
·
Vieira, MF
Tipo de Documento
Note
Year published
2016
Publicado
in
Microscopy and Microanalysis,
ISSN: 1431-9276
Volume: 22, Número: S4, Páginas: 54-55
Indexing
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Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1017/s1431927616000465
SCOPUS
: 2-s2.0-85014508843
Source Identifiers
ISSN
: 1431-9276
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