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Composition Measurement of Epitaxial Scxga1-Xn Films
AuthID
P-00K-HD9
11
Author(s)
Tsui, HCL
·
Goff, LE
·
Barradas, NP
·
Alves, E
·
Pereira, S
·
Palgrave, RG
·
Davies, RJ
·
Beere, HE
·
Farrer, I
·
Ritchie, DA
·
Moram, MA
Tipo de Documento
Article
Year published
2016
Publicado
in
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY,
ISSN: 0268-1242
Volume: 31, Número: 6, Páginas: 064002 (6)
Indexing
Wos
®
Scopus
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Crossref
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Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1088/0268-1242/31/6/064002
SCOPUS
: 2-s2.0-84973369301
Wos
: WOS:000378201000005
Source Identifiers
ISSN
: 0268-1242
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